Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

2013

Seminarium „Nowoczesne metody badawcze w naukach biologicznych”

17-12-2013

W dniu 18 stycznia 2014 na Wydziale Biologii Uniwersytetu Warszawskiego w Warszawie, w sali Rady Wydziału na I piętrze odbędzie się seminarium naukowe „Nowoczesne metody badawcze w naukach biologicznych”. Seminarium organizowane jest przez Sekcję Struktury i Rozwoju Roślin Polskiego Towarzystwa Botanicznego przy współudziale firmy Labsoft. W czasie seminarium nasi przedstawiciele przybliżą nowoczesne techniki mikroskopii skaningowej (SEM) i transmisyjnej (TEM) oraz urządzenia do preparatyki materiału biologicznego do badań SEM i TEM.

Serdecznie zapraszamy.

Pełny program seminarium - 18 stycznia 2014

Więcej

Odnowienie certyfikatu Trace International

09-12-2013

Miło nam poinformować, że po szczegółowej analizie działalności firmy Labsoft – Krzysztof Herman, międzynarodowa organizacja TRACE International uznała, że firma Labsoft wykonuje swoje czynności biznesowe zgodnie z międzynarodowymi aktami antykorupcyjnymi. W związku z tym uzyskaliśmy Certyfikat potwierdzający naszą nieposzlakowaną opinię i dobrą reputację, dbałość o wdrażanie i przestrzeganie procedur antykorupcyjnych oraz transparentność w zakresie działań biznesowych. Certyfikat ważny jest do 31 października 2014. Firma Labsoft – Krzysztof Herman jest zweryfikowanym członkiem (intermediary member) organizacji TRACE International od 1 listopada 2012.

TRACE International to organizacja non-profit założona w 2001 roku, która oferuje praktyczne rozwiązania z zakresu procedur antykorupcyjnych (anti-bribery compliance) dla międzynarodowych firm i ich partnerów handlowych (przedstawicieli handlowych, konsultantów, dystrybutorów, dostawców części, itp.). Główną misją organizacji jest zwiększanie transparentności działalności handlowej poprzez dostosowywanie procedur do międzynarodowych standardów antykorupcyjnych. TRACE oferuje następujące serwisy i produkty: analizy weryfikacyjne (due diligence) partnerów handlowych, modelowe procedury antykorupcyjne, dostęp on-line do podsumowań odnośnie międzynarodowych i lokalnych aktów legislacyjnych i dobrych praktyk oraz szkolenia w zakresie procedur antykorupcyjnych i ich przestrzegania.

Więcej

Współpraca z Centrotherm Photovoltaics AG

08-12-2013

W listopadzie 2013 firma Labsoft nawiązała współpracę z Centrotherm Photovoltaics AG (Blaubeuren, Niemcy). Na mocy podpisanej umowy od dnia dzisiejszego w naszej ofercie znajdują się produkty Centrotherm w zakresie obróbki termicznej przyrządów półprzewodnikowych – piece (dyfuzyjne) pionowe i poziome, piece RTP (rapid thermal processing), piece przenośnikowe oraz systemy do lutowania w próżni. Piece umożliwiają przeprowadzanie procesów dyfuzji, osadzanie warstw, wygrzewanie po implantacji jonowej i metalizacji, utlenianie termiczne, formowanie krzemków (Ti, Co, Ni, Pt) oraz pakowanie przyrządów półprzewodnikowych.

Firma Centrotherm Photovoltaics AG od ponad 50 lat rozwija i produkuje piece do obróbki termicznej. Specjalizuje się w systemach do laboratoryjnego i przemysłowego wytwarzania elementów fotowoltaicznych oraz przyrządów półprzewodnikowych. Firma dostarcza również gotowe, całościowe rozwiązania, w tym dostosowane do potrzeb klienta.

Więcej

Książki związane z mikroskopią elektronową

26-11-2013

Poniżej przedstawiamy listę książek związanych z mikroskopią elektronową, z treścią których  naszym zdaniem warto się zapoznać. Lista będzie sukcesywnie uzupełniana w czasie. Ponadto, będą się tu pojawiały krótkie opisy, a w niektórych przypadkach osobne recenzje. Po kliknięciu w tytuł książki zostaniecie Państwo przekierowani na odpowiednią stronę serwisu Google Books, o ile dana książka może być tam przeglądana.

EM:

Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy; An Introduction to TEM, SEM and AEM, Springer 2005

Jon Orloff, Handbook of Charged Particle Optics, CRC Press 2009

Terrence D. Allen (ed.), Introduction to Electron Microscopy for Biologists, Elsevier 2008

TEM:

D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer 2009

John C.H. Spence, High-Resolution Electron Microscopy, Oxford University Press 2003

L. Reimer, H. Kohl, Transmission Electron Microscopy; Physics of Image Formation, Springer 2008

P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson, D.W. Pashley, Electron Microscopy of Thin Crystals, Butterworths 1965

C.C. Ahn (ed.), Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Material Science and The EELS Atlas, Wiley-VCH 2004

J. Ayache, L. Beaunier, J. Boumendil, G. Ehret, D. Laub, Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy; Methodology, Springer Science 2010

J. Ayache, L. Beaunier, J. Boumendil, G. Ehret, D. Laub, Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy; Techniques, Springer Science 2010

SEM:

J. Goldstein Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Kluwer/Plenum 2003

L. Reimer, Scanning Electron Microscopy, Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer 1998

W. Zhou, Z. Lin Wang (ed.), Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications, Springer 2006

Debbie J. Stokes, Principle and Practice of Variable Pressure: Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM), Wiley 2008

A. J. Schwartz, M. Kumar, B. L. Adams, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Springer 2009

Patrick Echin, Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer 2009

FIB:

L.A. Giannuzzi (ed.), F.A. Stevie (ed.), Introduction to Focused Ion Beams; Instrumentation, Theory, Techniques and Practice, Springer 2005

Więcej

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco