Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

2013

Współpraca z Centrotherm Photovoltaics AG

08-12-2013

W listopadzie 2013 firma Labsoft nawiązała współpracę z Centrotherm Photovoltaics AG (Blaubeuren, Niemcy). Na mocy podpisanej umowy od dnia dzisiejszego w naszej ofercie znajdują się produkty Centrotherm w zakresie obróbki termicznej przyrządów półprzewodnikowych – piece (dyfuzyjne) pionowe i poziome, piece RTP (rapid thermal processing), piece przenośnikowe oraz systemy do lutowania w próżni. Piece umożliwiają przeprowadzanie procesów dyfuzji, osadzanie warstw, wygrzewanie po implantacji jonowej i metalizacji, utlenianie termiczne, formowanie krzemków (Ti, Co, Ni, Pt) oraz pakowanie przyrządów półprzewodnikowych.

Firma Centrotherm Photovoltaics AG od ponad 50 lat rozwija i produkuje piece do obróbki termicznej. Specjalizuje się w systemach do laboratoryjnego i przemysłowego wytwarzania elementów fotowoltaicznych oraz przyrządów półprzewodnikowych. Firma dostarcza również gotowe, całościowe rozwiązania, w tym dostosowane do potrzeb klienta.

Więcej

Książki związane z mikroskopią elektronową

26-11-2013

Poniżej przedstawiamy listę książek związanych z mikroskopią elektronową, z treścią których  naszym zdaniem warto się zapoznać. Lista będzie sukcesywnie uzupełniana w czasie. Ponadto, będą się tu pojawiały krótkie opisy, a w niektórych przypadkach osobne recenzje. Po kliknięciu w tytuł książki zostaniecie Państwo przekierowani na odpowiednią stronę serwisu Google Books, o ile dana książka może być tam przeglądana.

EM:

Ray F. Egerton, Physical Principles of Electron Microscopy; An Introduction to TEM, SEM and AEM, Springer 2005

Jon Orloff, Handbook of Charged Particle Optics, CRC Press 2009

Terrence D. Allen (ed.), Introduction to Electron Microscopy for Biologists, Elsevier 2008

TEM:

D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer 2009

John C.H. Spence, High-Resolution Electron Microscopy, Oxford University Press 2003

L. Reimer, H. Kohl, Transmission Electron Microscopy; Physics of Image Formation, Springer 2008

P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson, D.W. Pashley, Electron Microscopy of Thin Crystals, Butterworths 1965

C.C. Ahn (ed.), Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Material Science and The EELS Atlas, Wiley-VCH 2004

J. Ayache, L. Beaunier, J. Boumendil, G. Ehret, D. Laub, Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy; Methodology, Springer Science 2010

J. Ayache, L. Beaunier, J. Boumendil, G. Ehret, D. Laub, Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy; Techniques, Springer Science 2010

SEM:

J. Goldstein Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Kluwer/Plenum 2003

L. Reimer, Scanning Electron Microscopy, Physics of Image Formation and Microanalysis, Springer 1998

W. Zhou, Z. Lin Wang (ed.), Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications, Springer 2006

Debbie J. Stokes, Principle and Practice of Variable Pressure: Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM), Wiley 2008

A. J. Schwartz, M. Kumar, B. L. Adams, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Springer 2009

Patrick Echin, Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer 2009

FIB:

L.A. Giannuzzi (ed.), F.A. Stevie (ed.), Introduction to Focused Ion Beams; Instrumentation, Theory, Techniques and Practice, Springer 2005

Więcej

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco