Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Best Picture Award! w czasie EM’2020

16-12-2020

Zapraszamy na archiwalną stronę konkursu Best Picture Award!, który odbył się podczas konferencji XVIIth International Conference on Electron Microscopy (EM’2020). Można tam znaleźć wszystkie nadesłane zdjęcia, w tym zdjęcia nagrodzone.

Nasza firma wraz z naszymi partnerami miała przyjemność być sponsorem tego konkursu. Ufundowaliśmy nagrody za:

  • najlepsze zdjęcie naukowe – bon 250 € na międzynarodową opłatę konferencyjną,
  • najlepsze zdjęcie wg publiczności – bon 250 € na międzynarodową opłatę konferencyjną,
  • najlepsze zdjęcie artystyczne – kupon na wykonanie analizy próbki w narzędziu Thermo Fisher Scientific w Nanoport lub w kraju.

Jeszcze raz dziękujemy uczestnikom oraz gratulujemy nagrodzonym.

Kategorie

Archiwa

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.