Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Nauka i zastosowania

SENresearch 4.0 – nowy elipsometr spektroskopowy

21-03-2016

Miło nam poinformować, że firma SENTECH Instruments GmbH wprowadziła nowy elipsometr spektroskopowy – SENresearch 4.0. Jest to urządzenie o największym zakresie widmowym i najwyższej rozdzielczości spektralnej. SENresearch 4.0 przeznaczony jest do wyznaczania właściwości optycznych i strukturalnych szerokiego zakresu materiałów. Mimo wysokiego poziomu zaawansowania, obsługa urządzenia jest prosta i intuicyjna.

Więcej

Harmonogram szkoleń FEI 2016

01-03-2016

Firma FEI podała harmonogram szkoleń podstawowych i aplikacyjnych na rok 2016 dla użytkowników mikroskopów transmisyjnych i skaningowych elektronowych oraz skaningowych jonowo-elektronowych. Harmonogram wraz z pełnym opisem szkoleń i możliwością rezerwacji poszczególnych terminów znajduje na stronie FEI Academy,  dostępnej po zalogowaniu się do serwisu FEI. Zakup tych szkoleń dla użytkowników w Polsce odbywa się poprzez firmę Labsoft.

Więcej

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco