Vutara VXL, czyli kolejna generacja mikroskopów Vutara, to kompletny i uniwersalny system do mikroskopii lokalizacyjnej (SML, Single-Molecule Localizaton Microscopy). Dzięki połączeniu mikroskopii szerokiego pola z super-rozdzielczą mikroskopią fluorescencyjną, ta wszechstronna stacja robocza o kompaktowej budowie umożliwia wielomodalne i ilościowe obrazowanie biologiczne, również w nanoskali. Vutara VXL oferuje takie warianty mikroskopii SML jak (f)PALM, STORM, dSTORM, DNA-PAINT, OligoSTORM oraz opartą na szerokim polu metodę ORCA do rekonstrukcji architektury chromatyny.

Bruker właśnie zaprezentował mikroskop NanoRacer, który potrafi osiągnąć szybkość skanowania 50 klatek/s, co było wcześniej nieosiągalne dla systemów AFM dostępnych na rynku. Siłę, zalety i możliwości badawcze NanoRacer zauważył i docenił profesor Toshio Ando (Nano Life Science Institute, Kanazawa University, Japonia) – pionier wykorzystania szybkiego AFM do obrazowania procesów dynamicznych. Wypowiedział on następujące słowa:

Szanowni Państwo,

W ostatnich dniach podjęliśmy współpracę z firmą Boeckeler Instruments, doświadczonym producentem urządzeń do preparatyki próbek do mikroskopii elektronowej, znanych pod marką Boeckeler RMC. Od dziś w naszej ofercie ponownie znajdują się takie produkty jak ultramikrotomy, barwiarki siatek i procesory tkankowe. Urządzenia te znajdują zastosowanie głównie dla preparatów biologicznych, ale również dla próbek miękkich (polimerów) z zakresu inżynierii materiałowej.

Boeckeler Instruments posiada ogromne doświadczenie w produkcji mechanicznych urządzeń precyzyjnych – już w momencie powstania w 1942 firma wytwarzała śruby mikrometryczne, które do dziś należą do najbardziej precyzyjnych na świecie. Począwszy od 2000, tj. od momentu pozyskania RMC, firma weszła do świata mikroskopii elektronowej.

Szanowni Państwo,

W dniu 14 maja (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.

TOF-SIMS 101: Introduction, Ion Beams, MS/MS, and Materials Applications

Udział w webinarium jest bezpłatny. Dodatkowe informacje w języku angielskim oraz link rejestracyjny znajdują się tutaj.

Prezentacja będzie poświęcona podstawom fizycznym i sprzętowym, możliwościom i zastosowaniu spektrometrii masowej z czasem przelotu (TOF-SIMS). Technika TOF-SIMS dostarcza informacji o składzie pierwiastkowym i chemicznym z bardzo wysoką czułością z powierzchni próbki, a po zastosowaniu dział rozpylających również z kilkudziesięciu mikrometrów w głąb.