Szanowni Państwo!

Serdecznie zapraszamy na pokaz działania spektrometru mikrofluorescencji rentgenowskiej (mXRF) M1 MISTRAL firmy Bruker Nano. Pokaz odbędzie się w dniu 29 marca 2019, o godz. 11.00-16.00 w siedzibie firmy Labsoft przy ul. Puławskiej 469 w Warszawie. PROSIMY PAŃSTWA O ZABRANIE PRÓBKI DO ANALIZY!

M1 MISTRAL jest laboratoryjnym spektrometrem przystosowanym do bezpośredniego i nieniszczącego badania próbek pod kątem zawartości pierwiastków, bez konieczności specjalnego przygotowywania. Główne zastosowania:

• Możliwość wykonania wielopunktowej analizy (tzw. mapowanie) np. w badaniach próbek biologicznych lub geologicznych,
• Analiza pierwiastkowa nośników krzemowych (wafle),
• Badanie substancji niebezpiecznych, przenikających do środowiska z odpadów elektrycznych i elektronicznych, w odniesieniu do normy RoHS,
• Analiza grubości warstw/powłok, np. powłok galwanicznych, lakierniczych, biżuterii,
• Charakterystyka powłok np. płytki/płyty obwodów drukowanych PCB (elektronicznych) zgodnie z normami ASTM B568 i DIN/ISO 3497.

Więcej informacji można znaleźć na stronie producenta.

Pokaz spektrometru MISTRAL jest bezpłatny i nie wiąże się z koniecznością jego zakupu. Podczas jego trwania przewidujemy przerwy kawowe oraz zaoferujemy Państwu ciepły posiłek.

Pełny program pokazu znajduje się tutaj.

Jednocześnie informujemy, że w dniach 26-28 marca będziemy obecni na XXVII Targach Przemysłowej Techniki Pomiarowej CONTROL-STOM w Kielcach, w Hali F, stanowisko F-47. Zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska, gdzie będzie można zobaczyć spektrometr i porozmawiać o ofercie naszej firmy.

Miło nam poinformować, iż w związku z przejęciem JPK Instruments AG i ANASYS Instruments przez Bruker Corp., firma Labsoft rozszerzyła swoje portfolio o następujące produkty:

• mikroskop bio-AFM NanoWizard® 4 BioScience – w chwili obecnej jest to już czwarta generacja tego urządzenia. Oprócz wysokiej stabilności, rozdzielczości, dużej szybkości skanowania oraz dużego zakresu skanowania, mikroskop można łatwo zintegrować z innymi zaawansowanymi technikami obrazowania optycznego (np. mikroskopia konfokalna, FLIM, FCS, FRET, Raman) oraz superrozdzielczego (np. STED, SIM, PALM/STORM);
• mikroskop bio-AFM NanoWizard® Ultra Speed 2 – do obrazowania z rozdzielczością atomową przy ogromnych prędkościach skanowania sondy do 10 ramek/s, umożliwiających obrazowanie dynamiczne żywych komórek. W mikroskopie dostępny jest tryb PeakForce Tapping. Duży zakres w osi Z umożliwia skanowanie komórek oraz powierzchni pofałdowanych. Mikroskop można łatwo zintegrować z technikami optycznymi;
• system CellHesion® – do ilościowego badania oddziaływań między komórkami i między komórkami a substratami oraz do analizy odpowiedzi komórek na zewnętrzne czynniki mechaniczne. System pozwala również uzyskiwać mapy właściwości mechanicznych komórek i tkanek. Urządzenie łato zintegrować z technikami optycznymi. System jest dostępny również jako moduł do mikroskopów NanoWizard;
• spektroskop siłowy ForceRobot® 300 – do zautomatyzowanych pomiarów właściwości mechanicznych pojedynczych molekuł oraz oddziaływań między nimi. Urządzenie może wykonywać pomiary wielu tysięcy krzywych siłowych w sposób automatyczny, bez nadzoru użytkownika. Badania można prowadzić w kontrolowanych warunkach temperatury i w środowisku wodnym;
• pęseta/pułapka optyczna NanoTracker™ 2 – do manipulowania obiektami w mikro- i nanoskali w sposób nieinwazyjny. To zintegrowane z odwróconym mikroskopem świetlnym urządzenie wykorzystuje laserowe pułapki optyczne. Obiekty (o rozmiarach od 30 nm do kilku mikronów) uwięzione w pułapkach można następnie przesuwać poprzez ruch pułapki lub preparatu. Oprócz precyzyjnej manipulacji obiektami, pęsetę można również wykorzystać do pomiarów mechanicznych pojedynczych molekuł z precyzją pomiaru siły nawet kilku femtoniutonów. Dostępna jest również platforma OT-AFM Combi System, w której pęseta jest zintegrowana z mikroskopem AFM NanoWizard;
• spektrometr podczerwieni AFM-IR nanoIR3® – do analizy składu chemicznego w nanoobszarach z rozdzielczością lepszą niż 10 nm. Spektrometry AFM-IR łączą w sobie wysoką rozdzielczość mikroskopów AFM i bogactwo ich trybów pracy z możliwościami spektroskopii podczerwieni w zakresie analizy właściwości chemicznych. Dzięki temu można uzyskiwać nie tylko widma IR z zadanych nanoobszarów, ale również obrazy struktury, właściwości mechanicznych, elektrycznych i magnetycznych skorelowane z mapami składu chemicznego;
• system nanoIR3-s®, w którym spektrometria podczerwieni AFM-IR jest dodatkowo rozszerzona o skaningową mikroskopię bliskiego pola (s-SNOM) i jej możliwości w zakresie pozyskiwania informacji optycznych.

JPK Instruments jest światowym liderem w dostarczaniu rozwiązań BioAFM i technik z nimi powiązanymi dla nauk biologiczno-medycznych. Natomiast ANASYS Instruments jest światowym liderem w spektroskopii podczerwieni (IR) w nanoskali.

Firma Bruker prowadzi regularne szkolenia w postaci webinarów dla użytkowników mikroskopów AFM i profilometrów. Szkolenia trwają zwykle około jednej godziny i mają wymiar aplikacyjny, niejednokrotnie poruszając specjalistyczne i zaawansowane zagadnienia. Głównym celem jest wsparcie użytkowników w pełnym wykorzystaniu możliwości zakupionych urządzeń oraz oprogramowania.

Bieżące szkolenia wymagają wcześniejszego zarejestrowania się, natomiast historyczne webinary zostały udostępnione i można je obejrzeć w dowolnym momencie. Rejestracja jest darmowa.

Z przyjemnością informujemy, że w ostatnich dniach rozszerzyliśmy naszą ofertę o rozwiązania firmy SPETEC GmbH, która specjalizuje się w technologii stref czystych. Produkty te umożliwiają tworzenie wydzielonych stref o kontrolowanej i czystej atmosferze oraz doskonale sprawdzają się tam, gdzie budowa standardowych cleanroomów nie jest możliwa z powodów ekonomicznych lub technicznych.