Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Oferta

Nowy stolik DENSsolutions do FIB/SEM

26-04-2020

Firma DENSsolutions, producent holderów in-situ, wprowadziła nową wersję (3.0) stolika ułatwiającego preparatykę lamelek FIB i przenoszenie ich na nano-chipy MEMS. W nowej wersji zoptymalizowano geometrię tak, aby cały proces był bardziej przyjazny dla użytkownika i bezkolizyjny dla mikroskopu, chipa i lamelki.

Więcej

GMS 3 z darmowymi pakietami

22-04-2020

Nasz partner, firma Gatan, udostępnia wersję offline Gatan Microscopy Suite (GMS ver. 3.4.1) z darmowym dostępem do pakietów:

  • EELS/EDS Quantification,
  • EFTEM analysis,
  • Spectrum Imaging Viewer,
  • DigitalMontage,
  • HREM,
  • STEMx.

Więcej

Webinarium: XPS ze skanującą wiązką

14-04-2020

Szanowni Państwo,

W dniu 16 kwietnia (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.

Avoiding misinterpretations in the spectroscopic analysis of heterogeneous materials: the role of small area XPS analysis

Udział w webinarium jest bezpłatny. Link rejestracyjny znajduje się tutaj.

Prezentacja będzie poświęcona możliwościom spektrometrów XPS z małą i skanującą wiązką promieniowania X w porównaniu do spektrometrów z wiązką dużą i stacjonarną. Przewaga spektrometrów skanujących jest wyraźna na próbkach niejednorodnych powierzchniowo. Możliwość uzyskania obrazu powierzchni poprzez detekcję elektronów wtórnych (generowanych wiązką rentgenowską) daje możliwość łatwego wyszukiwania cech na próbce do dalszej analizy XPS. Ponadto, możliwe jest mapowanie składu chemicznego z rozdzielczością lateralną na poziomie średnicy wiązki (tu ~10 µm). Dla odmiany, analiza XPS przy pomocy dużej i statycznej wiązki daje jedynie wynik uśredniony po jej średnicy. W prezentacji zostaną pokazane liczne przykłady analizy XPS próbek niejednorodnych – z zanieczyszczeniami powierzchniowymi, po testach tribologicznych i korozyjnych, przekroje multiwarstw i wreszcie małe obiekty w innych matrycach/osnowach.

Więcej

Seria webinarów Bruker

26-03-2020

Począwszy od 31 marca, zapraszamy na serię bezpłatnych kursów internetowych, które obejmą szeroki zakres tematów, m.in.:

  • zastosowania trybu PeakForce Tapping
  • zastosowania w biologii i medycynie
  • analiza materiałów (materiały 2D, badania baterii itp.)
  • techniki IR w skali nano
  • metrologia optyczna 3D (pomiar chropowatości, QA / QC itp.)
  • trybologia i badania mechaniczne
  • techniki nanoindentacji

Każde wydarzenie umożliwi nie tylko poznanie technik lub usystematyzowanie wiedzy, ale pozwoli również na interaktywną wymianę doświadczeń ze specjalistami aplikacyjnymi firmy Bruker.

Więcej

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.