Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Oferta

Nowa seria mikroskopów stereoskopowych Leica

15-05-2017

Z przyjemnością informujemy, że do oferty Labsoftu dołącza nowa linia produktów w postaci mikroskopów stereoskopowych typu greenough (seria S) produkcji firmy Leica. Do najważniejszych zalet tej serii mikroskopów należą:

  • Zastosowana technologia Fusion Optics do tej pory zarezerwowana dla high-endowego M205C/A i prostego ale niezawodnego A60S/F
  • Głębia ostrości do 12mm przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości – wygoda i dokładność odwzorowania detali
  • Zoom 9:1 i odległość robocza 122 mm
  • Obserwacje w dużym zakresie powiększeń, bez konieczności zmian obiektywów i duża przestrzeń pod mikroskopem – szybka praca z mikroskopem, możliwość łatwego manipulowania próbkami
  • Zintegrowana 10 MPx kamera w modelu S9 - umożliwia szybką dokumentację i obserwację bezpośrednio na monitorze bez konieczności instalowania dodatkowych modułów sprzętowych typu wideoobiektyw
Więcej informacji na temat mikroskopów można znaleźć w broszurze oraz na stronie internetowej producenta: http://www.leica-microsystems.com/products/stereo-microscopes-macroscopes/routine-manual/details/product/leica-s9-e/ Pod tym linkiem dostępne są szersze informacje techniczne. Miło nam poinformować, iż mikroskop tej serii, Leica S9 D jest na wyposażeniu naszej firmy - zapraszamy do kontaktu wszystkich zainteresowanych demonstracją jego możliwości.

Więcej

Warsztaty AFM – Łódź

15-01-2017

Szanowni Państwo, Mamy przyjemność zaprosić na warsztaty z mikroskopii AFM, które odbędą się w dniach 17-19 I 2017 na Wydziale Chemii Uniwersytetu Łódzkiego. Wydarzenie organizowane jest przez Katedrę Chemii Nieorganicznej i Analitycznej Wydziału Chemii Uniwersytetu Łódzkiego oraz firmę Labsoft. W trakcie warsztatów dostępny będzie mikroskop Dimension Icon firmy Bruker. Uczestnicy będą mieli możliwość pomiaru własnych próbek.

Więcej

Detektory EDS z okienkiem Si3N4

04-04-2016

Firma EDAX Inc. wprowadziła na rynek detektory EDS z okienkami wykonanymi z azotku krzemu (Si3N4), które są alternatywą dla typowo stosowanych okienek polimerowych, znanych ze swojej delikatności.

Si3N4 posiada bardzo dobre właściwości mechaniczne i termiczne, dzięki czemu jego cienkie warstwy są odporne na różnice ciśnień, na wstrząsy i uderzenia, na wysokie i niskie temperatury (LN2), na zmiany temperatury oraz na czyszczenie plazmowe. Cechy te sprawiają, że materiał ten doskonale nadaje się do wytwarzania cienkich i wytrzymałych okienek do detektorów EDS.

Dzięki dużej odporności mechanicznej Si3N4, grubość okienek EDS z niego wykonanych wynosi poniżej 100 nm, w porównaniu do 300 nm dla warstw polimerowych. Zapewnia to lepszą o ok. 35% transmisję promieniowania rentgenowskiego w zakresie niskich energii, co pokazano na wykresie poniżej. Wyższość tych okienek nad polimerowymi będzie się zatem ujawniała zwłaszcza przy analizie lekkich pierwiastków.

Więcej

SENresearch 4.0 – nowy elipsometr spektroskopowy

21-03-2016

Miło nam poinformować, że firma SENTECH Instruments GmbH wprowadziła nowy elipsometr spektroskopowy – SENresearch 4.0. Jest to urządzenie o największym zakresie widmowym i najwyższej rozdzielczości spektralnej. SENresearch 4.0 przeznaczony jest do wyznaczania właściwości optycznych i strukturalnych szerokiego zakresu materiałów. Mimo wysokiego poziomu zaawansowania, obsługa urządzenia jest prosta i intuicyjna.

Więcej

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.