Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Seminarium

Wrocław, Chorzów i Katowice: „Mikroskopia elektronowa – najnowsze trendy i rozwiązania”

09-05-2019

Zapraszamy na serię wykładów „Mikroskopia elektronowa SEM, FIB i TEM – najnowsze trendy i rozwiązania”. Seminarium jest organizowane przez Labsoft i ThermoFisher Scientific w trzech miastach:

  • Wrocław, dn. 14.05.2019 Politechnika Wrocławska, Wydział Chemiczny, Bud. C6, ul. Norwida 4/6, Wrocław, sala 221 i 222 (I piętro). Początek godz. 11:15, koniec ok. 14:30. Dokładny program znajduje się tutaj;
  • Chorzów, dn. 15.05.2019Uniwersytet Śląski, Śląskie Międzyuczelniane Centrum Edukacji i Badań Interdyscyplinarnych, Instytut Nauki o Materiałach, ul. 75 Pułku Piechoty 1a, Chorzów, sala A/2/05. Początek godz. 9:00, koniec ok. 11:30. Dokładny program znajduje się tutaj;
  • Kraków, dn. 16.05.2019 ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii, ul. Kawiory 30, 30-055 Kraków, Pawilon D-16, sala Audytoryjna, początek godz. 8:30, koniec ok. 11:30. Dokładny program znajduje się tutaj.

Wykładowcami będą specjaliści firmy ThermoFisher Scientific:

  • dr Daniel Phifer – tematyka SEM i FIB,
  • dr Anil Yalcin – tematyka TEM i STEM.

Więcej

Konferencja Zakopane School of Physics

08-05-2019

W Zakopanem, w dniach 21-25 maja 2019r. odbędzie się LIV konferencja Zakopane School of Physics Breaking Frontiers: Submicron Structures in Physics and  Biology, która jest organizowana przez Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego PAN w Krakowie począwszy od 1963 roku.

Podczas konferencji, w dniu 22 maja o godz. 12.30, dr Miriam Unger (Bruker Nano Surfaces) wygłosi wykład pt. „Latest Advances in Nanoscale IR Spectroscopy and Imaging”, na który serdecznie Państwa zapraszamy!

Firma Labsoft od 2018 roku jest dystrybutorem systemów nano-IR firmy Bruker (dawniej Anasys Instruments). Systemy te stanowią połączenie dwóch technik - AFM i IR, dzięki czemu umożliwiają uzyskiwanie widm IR z nanoobszarów (zdolność rozdzielcza <10 nm), ale również obrazów struktury, właściwości mechanicznych, elektrycznych i magnetycznych, skorelowanych z mapami składu chemicznego.

Również zachęcamy Państwa do odwiedzenia naszego stoiska firmowego, na którym obecny będzie dr Michał Kużdżał, i do zapoznania się z najnowszą ofertą naszej firmy.

Więcej

Pokaz możliwości spektrometru μXRF M1 Mistral

21-03-2019

Szanowni Państwo!

Serdecznie zapraszamy na pokaz działania spektrometru mikrofluorescencji rentgenowskiej (mXRF) M1 MISTRAL firmy Bruker Nano. Pokaz odbędzie się w dniu 29 marca 2019, o godz. 11.00-16.00 w siedzibie firmy Labsoft przy ul. Puławskiej 469 w Warszawie. PROSIMY PAŃSTWA O ZABRANIE PRÓBKI DO ANALIZY!

M1 MISTRAL jest laboratoryjnym spektrometrem przystosowanym do bezpośredniego i nieniszczącego badania próbek pod kątem zawartości pierwiastków, bez konieczności specjalnego przygotowywania. Główne zastosowania:

  • Możliwość wykonania wielopunktowej analizy (tzw. mapowanie) np. w badaniach próbek biologicznych lub geologicznych,
  • Analiza pierwiastkowa nośników krzemowych (wafle),
  • Badanie substancji niebezpiecznych, przenikających do środowiska z odpadów elektrycznych i elektronicznych, w odniesieniu do normy RoHS,
  • Analiza grubości warstw/powłok, np. powłok galwanicznych, lakierniczych, biżuterii,
  • Charakterystyka powłok np. płytki/płyty obwodów drukowanych PCB (elektronicznych) zgodnie z normami ASTM B568 i DIN/ISO 3497.

Więcej informacji można znaleźć na stronie producenta.

Pokaz spektrometru MISTRAL jest bezpłatny i nie wiąże się z koniecznością jego zakupu. Podczas jego trwania przewidujemy przerwy kawowe oraz zaoferujemy Państwu ciepły posiłek.

Pełny program pokazu znajduje się tutaj.

Jednocześnie informujemy, że w dniach 26-28 marca będziemy obecni na XXVII Targach Przemysłowej Techniki Pomiarowej CONTROL-STOM w Kielcach, w Hali F, stanowisko F-47. Zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska, gdzie będzie można zobaczyć spektrometr i porozmawiać o ofercie naszej firmy.

Więcej

Szkolenia online dla użytkowników AFM i profilometrów

22-10-2017

Firma Bruker prowadzi regularne szkolenia w postaci webinarów dla użytkowników mikroskopów AFM i profilometrów. Szkolenia trwają zwykle około jednej godziny i mają wymiar aplikacyjny, niejednokrotnie poruszając specjalistyczne i zaawansowane zagadnienia. Głównym celem jest wsparcie użytkowników w pełnym wykorzystaniu możliwości zakupionych urządzeń oraz oprogramowania.

Bieżące szkolenia wymagają wcześniejszego zarejestrowania się, natomiast historyczne webinary zostały udostępnione i można je obejrzeć w dowolnym momencie. Rejestracja jest darmowa.

Więcej

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco