Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Seminarium

Best Picture Award! w czasie EM’2020

16-12-2020

Zapraszamy na archiwalną stronę konkursu Best Picture Award!, który odbył się podczas konferencji XVIIth International Conference on Electron Microscopy (EM’2020). Można tam znaleźć wszystkie nadesłane zdjęcia, w tym zdjęcia nagrodzone.

Nasza firma wraz z naszymi partnerami miała przyjemność być sponsorem tego konkursu. Ufundowaliśmy nagrody za:

  • najlepsze zdjęcie naukowe – bon 250 € na międzynarodową opłatę konferencyjną,
  • najlepsze zdjęcie wg publiczności – bon 250 € na międzynarodową opłatę konferencyjną,
  • najlepsze zdjęcie artystyczne – kupon na wykonanie analizy próbki w narzędziu Thermo Fisher Scientific w Nanoport lub w kraju.

Jeszcze raz dziękujemy uczestnikom oraz gratulujemy nagrodzonym.

Więcej

XPS |ToF-SIMS | AES – workshhop online

12-11-2020

W dniach 17, 18 i 19 listopada 2020 firma Physical Electronics (PHI) organizuje wirtualny workshop poświęcony powierzchniowym metodom badawczym dostępnym w urządzeniach tej doświadczonej i szanowanej firmy. W tych dniach, od wtorku do czwartku, między godziną 17 a 19, wszyscy zainteresowani będą mogli posłuchać o rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów (XPS), spektroskopii masowej z czasem przelotu (ToF-SIMS) i spektroskopii elektronów Augera (AES), ich zastosowaniach oraz nowych rozwiązaniach technicznych. Wykłady, w większości poświęcone rzeczywistym problemom badawczym – naukowym, aplikacyjnym i przemysłowym, będą prezentowane przez naukowców – użytkowników urządzeń PHI oraz specjalistów aplikacyjnych PHI. Niektóre z wystąpień będą poświęcone zagadnieniom ogólnym, np. preparatyce próbek i dobrej praktyce rejestracji danych. Pełny program workshopu znajduje się poniżej. Udział w workshopie jest bezpłatny i dostępny dla wszystkich, w tym dla użytkowników urządzeń innych firm oraz dla osób potencjalnie zainteresowanych analizą składu powierzchni.

Serdecznie zapraszamy!

Więcej

Webinarium: arkusz światła uniwersalna technika bio-obrazowania

19-06-2020

Szanowni Państwo, W dniu 25 czerwca (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Bruker  organizuje webinarium pt. Advances in Light-Sheet Microscopy: A Universal Tool for 3D Bioimaging Prelegentem będzie dr Malte Wachsmuth - szef zespołu inżynierów aplikacyjnych Luxendo GmbH.

Udział w webinarium jest bezpłatny. Dodatkowe informacje w języku angielskim oraz link rejestracyjny znajdują się tutaj.

Prezentacja będzie omawiać zalety mikroskopii arkusza-światła jako delikatnej techniki bio-obrazowania oraz pokaże najnowsze zmiany w portfolio mikroskopów SPIM. Zostaną zaprezentowane możliwości mikroskopów MuVi SPIM, InVi SPIM, TruLive3D Imager oraz QuVi SPIM do obrazowania rozwoju embrionów, kultur komórkowych 2D oraz 3D (takich jak linie komórkowe i organoidy) z pełną kontrolą środowiska. Dodatkowo zaprezentowane zostaną możliwości systemów do obrazowania próbek optycznie oczyszczonych np. obrazowanie całego mysiego mózgu.

Serdecznie zapraszamy!

Więcej

Webinarium: podstawy fizyczne i sprzętowe TOF-SIMS

07-05-2020

Szanowni Państwo,

W dniu 14 maja (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.

TOF-SIMS 101: Introduction, Ion Beams, MS/MS, and Materials Applications

Udział w webinarium jest bezpłatny. Dodatkowe informacje w języku angielskim oraz link rejestracyjny znajdują się tutaj.

Prezentacja będzie poświęcona podstawom fizycznym i sprzętowym, możliwościom i zastosowaniu spektrometrii masowej z czasem przelotu (TOF-SIMS). Technika TOF-SIMS dostarcza informacji o składzie pierwiastkowym i chemicznym z bardzo wysoką czułością z powierzchni próbki, a po zastosowaniu dział rozpylających również z kilkudziesięciu mikrometrów w głąb.

Więcej

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.