XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS
Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

(Polski)
Topografię i morfologię powierzchni, chropowatość powierzchni, grubość warstw powierzchniowych.
(Polski)
Maksymalny rozmiar próbki to: średnica 200 mm, grubość 50 mm.
(Polski)
Przy preparatyce próbki do pomiarów topografii należy pamiętać, że maksymalny zakres pomiarowy urządzenia to 1 mm. Aby zbadać grubość warstwy, próbka musi posiadać stopień, tzn. obszar graniczny między podłożem i warstwą.
(Polski)
Pomiar może być zautomatyzowany o ile urządzenie zostało wyposażone w odpowiedni stolik. Pomiar 2D trwa zwykle od kilku do kilkudziesięciu sekund. Natomiast pomiary 3D trwają od kilku do kilkudziesięciu minut. Czas pomiaru zależy od wielkości badanego obszaru oraz od parametrów skanowania.
(Polski)
W przypadku pomiarów 2D wynikiem pomiaru jest krzywa 2D. Natomiast pomiar 3D daje obraz topografii badanej powierzchni.
(Polski)
DektakXT jest urządzeniem kompaktowym i zajmuje ok. 1 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego lub biurka komputerowego.
(Polski)
DektakXT jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała opowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz brak było zapylenia. Zaleca się także, aby pomieszczenie było izolowane od drgań w stopniu przynajmniej dostatecznym.
(Polski) Nie.
(Polski)
Koszty eksploatacyjne są niskie. Materiałem eksploatacyjnym są igły pomiarowe (stylusy), które są bardzo trwałe. Zalecane są coroczne przeglądy serwisowe w celu konserwacji systemu.
(Polski)
DektakXT jest urządzeniem modułowym i jego cena zależna jest od konfiguracji. Zakres cenowy to od 200 000 do 500 000 zł.