Labsoft

XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS

Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

AFM
MIKROSKOPE
UND PROFILOMETRIE

AFM und SPM Mikroskopie, grösste Auswahl von Operationsmodi und Messproben, Stylus und Optische Profilometer.

Mikroskopia AFM

ELEKTRONEN
MIKROSKOPE

Transmission- Raster- Dualstrahl-elektronenmikroskope, mit analytischen Zubehör – WDS, EDS, EBSD, Kriotechnik, Litographie, Mikromanipulatoren, vielfachige Probenvorbereitungzubehör

Mikroskopia Elektronowa

KUNDENDIENST,
UNTERSTüTZUNG

Fachunterstützung, Benutzerschulungen, Applikationshilfe für alle Geräte

Serwis techniczny

Dünnschicht Und
Oberflächemessung,
Beschichtungstechniek

RIE, CVD, ALD und MBE Reaktoren für Dünnschichten Bearbeitung, Tribometer, Ellipsometer, Scratch- und Härtetester

Badanie warstw

Stylus profilometers

Bruker

Leider ist der Eintrag nur auf Polnisch verfügbar.

FAQ

  • (Polski) Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć urządzeniem DektakXT?

    (Polski)

    Topografię i morfologię powierzchni, chropowatość powierzchni, grubość warstw powierzchniowych.

  • (Polski) Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    (Polski)

    Maksymalny rozmiar próbki to: średnica 200 mm, grubość 50 mm.

  • (Polski) Jak należy przygotować próbkę?

    (Polski)

    Przy preparatyce próbki do pomiarów topografii należy pamiętać, że maksymalny zakres pomiarowy urządzenia to 1 mm. Aby zbadać grubość warstwy, próbka musi posiadać stopień, tzn. obszar graniczny między podłożem i warstwą.

  • (Polski) Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może zostać zautomatyzowany?

    (Polski)

    Pomiar może być zautomatyzowany o ile urządzenie zostało wyposażone w odpowiedni stolik. Pomiar 2D trwa zwykle od kilku do kilkudziesięciu sekund. Natomiast pomiary 3D trwają od kilku do kilkudziesięciu minut. Czas pomiaru zależy od wielkości badanego obszaru oraz od parametrów skanowania.

  • (Polski) W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    (Polski)

    W przypadku pomiarów 2D wynikiem pomiaru jest krzywa 2D. Natomiast pomiar 3D daje obraz topografii badanej powierzchni.

  • (Polski) Jakie są gabaryty urządzenia wraz z niezbędnymi elementami pomocniczymi?

    (Polski)

    DektakXT jest urządzeniem kompaktowym i zajmuje ok. 1 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego lub biurka komputerowego.

  • (Polski) Czy pomieszczenie, w którym będzie zainstalowane urządzenie musi spełniać szczególne wymagania?

    (Polski)

    DektakXT jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała opowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz brak było zapylenia. Zaleca się także, aby pomieszczenie było izolowane od drgań w stopniu przynajmniej dostatecznym.

  • (Polski) Czy urządzenie jest głośne i generuje inne uciążliwe czynniki?

    (Polski) Nie.

  • (Polski) Jakie są koszty części zużywalnych i eksploatacji urządzenia?

    (Polski)

    Koszty eksploatacyjne są niskie. Materiałem eksploatacyjnym są igły pomiarowe (stylusy), które są bardzo trwałe. Zalecane są coroczne przeglądy serwisowe w celu konserwacji systemu.

  • (Polski) Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    (Polski)

    DektakXT jest urządzeniem modułowym i jego cena zależna jest od konfiguracji. Zakres cenowy to od 200 000 do 500 000 zł.

Produkte

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.