XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS
Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

(Polski)
Analiza pierwiastkowa (w zakresie od Na do U) z dokładnością do ppm. Ponadto w modelach wyposażonych w dodatkowy kanał dyfrakcyjnych możliwość oznaczania wolnego wapna.
(Polski) Średnica zewnętrzna próbki wynosi max. do 51,5 mm.
(Polski) Najczęściej przygotowuje się próbki prasowane.
(Polski)
Pomiar np. wolnego wapna trwa mniej niż 60 s/próbkę przy użyciu lampy RTG o mocy 4 kW. Pomiar może zostać w pełni zautomatyzowany.
(Polski)
Wyniki otrzymuje się jako widmo XRF (natężenie vs energia) w formie graficznej. Ponadto, obliczony skład procentowy analizowanego obszaru jest wyświetlany w formie tabeli.
(Polski) Maksymalny wymiar urządzenia to 193 cm x 84 cm x 118 cm.
(Polski)
W pomieszczeniu wymagana jest klimatyzacja, gniazdo z zasilaniem jedno- lub trójfazowym. Ponadto wymagane jest podłączenie do gazu licznikowego (tj. mieszaniny P10).
(Polski) Poziom hałasu urządzenia ≤ 61 dB.
(Polski)
Koszty eksploatacyjne związane są głównie z przygotowaniem próbek, pojemników jednorazowych, np. aluminiowych kapsli, substancji łączących próbkę, np. wosk.