XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS
Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

(Polski) Analiza pierwiastkowa (w zakresie od Be do Am) z dokładnością ppm. Wyznaczanie grubości warstw, składu pierwiastkowego w poszczególnych warstwach oraz mapowanie. Główne zastosowania przemysłowe to:
(Polski) Średnica zewnętrzna próbki wynosi maksymalnie 51,5 mm.
(Polski)
Próbki do analiz przygotowuje się zwykle poprzez stapianie i prasowanie przy pomocy specjalnych urządzeń. Pozwala to na uzyskanie próbki w postaci stopionej perły lub sprasowanej pastylki. W przypadku cieczy, nalewa się je do jednorazowego pojemnika (50 ml), który przykryty jest folią o dużej przepuszczalności dla promieni rentgenowskich. W takich pojemnikach można również badać sypkie proszki.
(Polski)
Pomiar trwa kilka minut i zależy od zadanych w oprogramowaniu parametrów. Pomiar może zostać w pełni zautomatyzowany.
(Polski)
Wyniki otrzymuje się jako widmo XRF (natężenie vs energia) w formie graficznej. Ponadto, obliczony skład procentowy analizowanego obszaru jest wyświetlany w formie tabeli.
(Polski) Maksymalny wymiar urządzenia to 135 x 84 x 104 cm.
(Polski)
W pomieszczeniu wymagana jest klimatyzacja, gniazdo z zasilaniem jedno lub trójfazowym w zależności od zastosowanej mocy lampy rentgenowskiej. Ponadto, wymagane jest podłączenie do gazu licznikowego oraz butli z helem w przypadku próbek ciekłych lub luźnych proszków. Należy również pamiętać o zewnętrznym układzie chłodzenia przy zastosowaniu 3 lub 4 kW lampy RTG.
(Polski) Nie. Poziom hałasu urządzenia w trakcie pracy ≤ 61 dB.
(Polski)
Koszty eksploatacyjne związane są głównie z przygotowaniem próbek i obejmują zakup folii, pojemników jednorazowych i aluminiowych kapsli, substancji łączących próbkę (np. wosk) czy topniki (np. czteroboran litu).