XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS
Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

(Polski)
Głównymi obszarami wykorzystania elipsometrów laserowych są:
(Polski)
Dla pojedynczego pomiaru czas wyznaczenia widma to 120 ms …. 1.5 s (w zależności od wybranego modu pomiarowego).
Tak krótki czasu pomiaru predysponuje zastosowanie urządzenia w aplikacjach in-situ, m.in. do pomiaru wsp. GPC (ang. growth per cycle) w procesie ALD.
Łatwe w użyciu oprogramowanie umożliwia przeprowadzenie pomiaru po naciśnięciu jednego przycisku z wykorzystaniem zapisanych w pamięci definicji dla konkretnego rodzaju materiału, które mogą zostać opracowane przez producenta przed dostarczeniem urządzenia lub stworzone samodzielnie przez użytkownika
(Polski)
Cena modelu SE 400adv to koszt rzędu 220 tyś. PLN netto w wersji podstawowej.
W skład urządzenia w wersji podstawowej wchodzą:
manualny goniometr z krokiem co 5º, stolik o średnicy 150 mm z ręczną regulacją przechyłu i przemieszczenia w osi Z, układ optyczny kompensator, polaryzator, analizator, oprogramowanie SE400 advanced do obsługi urządzenia i analizy wyników, komputer PC z systemem operacyjnym Windows7.