Labsoft

XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS

Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

AFM
MIKROSKOPE
UND PROFILOMETRIE

AFM und SPM Mikroskopie, grösste Auswahl von Operationsmodi und Messproben, Stylus und Optische Profilometer.

Mikroskopia AFM

ELEKTRONEN
MIKROSKOPE

Transmission- Raster- Dualstrahl-elektronenmikroskope, mit analytischen Zubehör – WDS, EDS, EBSD, Kriotechnik, Litographie, Mikromanipulatoren, vielfachige Probenvorbereitungzubehör

Mikroskopia Elektronowa

KUNDENDIENST,
UNTERSTüTZUNG

Fachunterstützung, Benutzerschulungen, Applikationshilfe für alle Geräte

Serwis techniczny

Dünnschicht Und
Oberflächemessung,
Beschichtungstechniek

RIE, CVD, ALD und MBE Reaktoren für Dünnschichten Bearbeitung, Tribometer, Ellipsometer, Scratch- und Härtetester

Badanie warstw

SENDIRA

Sentech

Leider ist der Eintrag nur auf Polnisch verfügbar.

FAQ

  • (Polski) Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć elipsometrem SENDIRA?

    (Polski)

    SENDIRA jest nastołowym urządzeniem przeznaczonym do pracy w zakresie bliskiej podczerwieni, od 400 cm-1 do 6,000 cm-1 (25 µm – 1.7 µm). Technika skupia się na analizie pasm absorpcyjnych w uzyskanym widmie, związanych z przejściami oscylacyjnymi. Elipsometr umożliwia:

      • wyznaczenie grubości warstw
      • wyznaczenie współczynników załamania i ekstynkcji
      • analizę składu
      • identyfikację materiałów na podłożach transparentnych
      • detekcję zanieczyszczeń
      • określenie orientacji molekuł w materiałach organicznych
      • badanie przewodnictwa
      • wyznaczenie profili koncentracji domieszek.</li
  • (Polski) W jakich obszarach elipsometr SENDIRA znajduje swoje zastosowanie?

    (Polski)

    Głównymi obszarami wykorzystania elipsometru SENDIRA są:

      • Ultracienkie warstwy materiałów organicznych i nieorganicznych
      • Mikroelektronika, PV : profile koncentracji nośników
      • Fizyka: urządzenia IR
      • Chemia
      • Biologia, biotechnologia
  • (Polski) Czy możliwe jest podłączenie elipsometru do spektrofotometru FTIR, który jest w posiadaniu klienta?

    (Polski)

    Tak, możliwe jest podłączenie elipsometru SENDIRA do FTIR, który jest w posiadaniu klienta. Wymogiem jest by FTIR posiadał port, który umożliwi sprzężenie elipsometru SENDIRA z FTIR.

  • (Polski) W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    (Polski)

    Uzyskanie finalnego wyniku wymaga od użytkownika wykonania następujących kroków: pomiaru, modelowania (wybór modelu z istniejącej bazy dla otrzymanych wyników eksperymentalnych), analizy wyników (możliwie dokładne dopasowanie parametrów krzywej eksperymentalnej do parametrów krzywej modelowej) i przygotowania raportu (na zasadzie „drag&drop)”. Na początkowym, poznawczym etapie pracy z elipsometrem, użytkownik może liczyć na wsparcie producenta.

  • (Polski) Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    (Polski)

    Cena elipsometru SENDIRA to koszt rzędu 750 tyś. PLN netto w wersji podstawowej. Cena urządzenia w wersji podstawowej obejmuje spektrofotometr FTIR, układ autokolimujący, komputerowo sterowany goniometr (zakres kątowy 40-90°), manualny 150 mm stolik próbek, kompensator, polaryzator, oprogramowanie SpectraRay/4, Windows 7./p>

Produkte

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.