XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS
Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

(Polski)
SENDIRA jest nastołowym urządzeniem przeznaczonym do pracy w zakresie bliskiej podczerwieni, od 400 cm-1 do 6,000 cm-1 (25 µm – 1.7 µm). Technika skupia się na analizie pasm absorpcyjnych w uzyskanym widmie, związanych z przejściami oscylacyjnymi. Elipsometr umożliwia:
(Polski)
Głównymi obszarami wykorzystania elipsometru SENDIRA są:
(Polski)
Tak, możliwe jest podłączenie elipsometru SENDIRA do FTIR, który jest w posiadaniu klienta. Wymogiem jest by FTIR posiadał port, który umożliwi sprzężenie elipsometru SENDIRA z FTIR.
(Polski)
Uzyskanie finalnego wyniku wymaga od użytkownika wykonania następujących kroków: pomiaru, modelowania (wybór modelu z istniejącej bazy dla otrzymanych wyników eksperymentalnych), analizy wyników (możliwie dokładne dopasowanie parametrów krzywej eksperymentalnej do parametrów krzywej modelowej) i przygotowania raportu (na zasadzie „drag&drop)”. Na początkowym, poznawczym etapie pracy z elipsometrem, użytkownik może liczyć na wsparcie producenta.
(Polski)
Cena elipsometru SENDIRA to koszt rzędu 750 tyś. PLN netto w wersji podstawowej. Cena urządzenia w wersji podstawowej obejmuje spektrofotometr FTIR, układ autokolimujący, komputerowo sterowany goniometr (zakres kątowy 40-90°), manualny 150 mm stolik próbek, kompensator, polaryzator, oprogramowanie SpectraRay/4, Windows 7./p>