XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS
Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

(Polski)
To jakie parametry można będzie zbadać zależy od finalnie ustalonej konfiguracji urządzenia, a w głównej mierze wybranych sensorów. Dostępne są m.in. głowice do pomiarów:
– grubości powłok i lustrzanego odbicia w szerokim zakresie spektralnym
– rezystancji powierzchniowej
– stałych optycznych
– transmitancji
– zamglenia
– i wiele innych.
(Polski)
W podstawowym modelu badane mogą być gotowe panele szklane o wymiarach 110 cm x 140 cm oraz 110 cm x 130 cm. Panele o innych wymiarach: do ustalenia z producentem.
Grubość tafli szkła bez i z powłok-ą/-ami w zakresie od 2 do 4 mm.
(Polski)
W przypadku tego urządzenia, pomiar jest w pełni automatyczny. Zaawansowane ale łatwe w użytkowaniu oprogramowanie do mapowania właściwości tafli szkła, obsługuje proces pomiarowy oraz wykonuje obliczenia parametrów próbek z wykorzystaniem bogatej bazy z predefiniowanymi obiektami i stałymi materiałowymi.
(Polski)
Wymiary zewnętrzne ~ 250 cm x 390 cm (szer. x dł.).