Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.
AFM und SPM Mikroskopie, grösste Auswahl von Operationsmodi und Messproben, Stylus und Optische Profilometer.
Transmission- Raster- Dualstrahl-elektronenmikroskope, mit analytischen Zubehör – WDS, EDS, EBSD, Kriotechnik, Litographie, Mikromanipulatoren, vielfachige Probenvorbereitungzubehör
Fachunterstützung, Benutzerschulungen, Applikationshilfe für alle Geräte
RIE, CVD, ALD und MBE Reaktoren für Dünnschichten Bearbeitung, Tribometer, Ellipsometer, Scratch- und Härtetester
Leider ist der Eintrag nur auf Polnisch verfügbar.
