Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Detektory EDS z okienkiem Si3N4

04-04-2016

Firma EDAX Inc. wprowadziła na rynek detektory EDS z okienkami wykonanymi z azotku krzemu (Si3N4), które są alternatywą dla typowo stosowanych okienek polimerowych, znanych ze swojej delikatności.

Si3N4 posiada bardzo dobre właściwości mechaniczne i termiczne, dzięki czemu jego cienkie warstwy są odporne na różnice ciśnień, na wstrząsy i uderzenia, na wysokie i niskie temperatury (LN2), na zmiany temperatury oraz na czyszczenie plazmowe. Cechy te sprawiają, że materiał ten doskonale nadaje się do wytwarzania cienkich i wytrzymałych okienek do detektorów EDS.

Dzięki dużej odporności mechanicznej Si3N4, grubość okienek EDS z niego wykonanych wynosi poniżej 100 nm, w porównaniu do 300 nm dla warstw polimerowych. Zapewnia to lepszą o ok. 35% transmisję promieniowania rentgenowskiego w zakresie niskich energii, co pokazano na wykresie poniżej. Wyższość tych okienek nad polimerowymi będzie się zatem ujawniała zwłaszcza przy analizie lekkich pierwiastków.

W chwili obecnej okienka te są montowane w następujących seriach detektorów EDS SDD firmy Edax Inc.:

  • Element, dedykowanej do zastosowań przemysłowych,
  • Octane Elite, przeznaczonej do wymagających zastosowań badawczych.

Więcej informacji o detektorach EDS firmy EDAX można znaleźć tu.

Porównanie funkcji transmisji promieniowania X przez okienka polimerowe i z azotku krzemu:

Si3N4 vs polymer

Prezentacja video – testowanie okienek z Si3N4:

 

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco