Labsoft

XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS

Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

ATOMIC FORCE
MICROSCOPY
AND PROFILOMETRY

AFM and SPM microscopes, wide range of operation modes and AFM probes, stylus and optical 3D surface profilers

Mikroskopia AFM

ELECTRON
MICROSCOPY
AND DUAL BEAM SYSTEMS

Full range of SEM, TEM and dual beam microscopes and analytical EDS, WDS, EBSD systems, cryo-techniques, litography, micromanipulators, sample preparation instruments and materials

Mikroskopia Elektronowa

SERVICE
AND SUPPORT

Specialized technical service, user training and application oriented suport

Serwis techniczny

THIN FILM
DEPOSITION,
SURFACE ANALYSIS

RIE, CVD, ALD and MBE reactors for surface modification and thin-film deposition, tribometers, scratch testers, ellipsometers and indentation testers for surface and layer characterization

Badanie warstw

Dimension Icon

Bruker

Sorry, this entry is only available in Polish.

FAQ

  • (Polski) Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć urządzeniem?

    (Polski)

    Mikroskopy sił atomowych są potężnym narzędziem badawczym stworzonym do badania topografii, a także innych właściwości powierzchni – elektrycznych, elektrochemicznych, magnetycznych, nanomiechanicznych czy też cieplnych. Mapowanie topografii i innych właściwości odbywa się z rozdzielczością od kilkunastu nanometrów do ok. 1 nm. Pomiary można prowadzić zarówno w warunkach pokojowych, jak i w kontrolowanej atmosferze. Mikroskop Dimension ICON może zostać zsynchronizowany ze spekrometrem ramanowskim, co pozwala na rejestrację widm z rozdzielczością znacznie większą niż w przypadku klasycznego rozwiązania opartego o mikroskopię świetlną.

  • (Polski) Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    (Polski)

    Dimension ICON jest mikroskopem umożliwiającym pomiary dużych próbek, tj. o średnicy do 210 mm. Wysokość próbki nie powinna przekraczać 15 mm.

  • (Polski) Jak należy przygotować próbkę?

    (Polski)

    Mikroskopy sił atomowych dedykowane są do próbek stosunkowo płaskich. Przygotowując próbkę należy mieć na uwadze zakres pomiarowy skanera w osi Z, który w przypadku mikroskopu Dimension ICON wynosi 10 µm. Bardziej wymagające pomiary, np. elektryczne mogą wymagać dodatkowych zabiegów. W przypadku takich zaawansowanych zastosowań  sugerujemy kontakt z naszymi specjalistami aplikacyjnymi.

  • (Polski) Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może zostać zautomatyzowany?

    (Polski)

    Przeciętny pomiar trwa około kilku minut. Mikroskop Dimension Icon umożliwia automatyzację procesu pomiarowego poprzez: zaprogramowanie stolika, tworzenie skryptów pomiarowych lub zastosowanie opcjonalnego pakietu AutoMET z funkcją lokalizacji miejsca na próbce.

  • (Polski) W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    (Polski)

    Wyniki topografii otrzymuje się w postaci trójwymiarowej mapy powierzchni. Interpretacja wyników zależy od doświadczenia użytkownika, jednakże są one przedstawione w czytelnej i przejrzystej formie. Należy pamiętać, że mikroskop AFM umożliwia także pomiary innych właściwości (np. nanomechanicznych). W takim wypadku poza topografią powierzchni otrzymuje się przykładowo mapę rozkładu modułu Younga czy rozkładu adhezji pomiędzy ostrzem a próbką. Co ważne, mapy topografii i innych właściwości mogą być ze sobą ściśle skorelowane.

  • (Polski) Jakie są gabaryty urządzenia wraz z niezbędnymi elementami pomocniczymi?

    (Polski)

    Dimension ICON wraz z komorą akustyczną zajmuje powierzchnię ok. 1,5 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane jest za pośrednictwem kontrolerów przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego. Należy także zwrócić uwagę, aby zapewnić swobodny dostęp do elementów mikroskopu.

  • (Polski) Czy pomieszczenie, w którym będzie zainstalowane urządzenie musi spełniać szczególne wymagania?

    (Polski)

    Dimension ICON jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała odpowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz nie było zapylenia. Muszą być również spełnione odpowiednie wymogi odnośnie drgań mechanicznych i akustycznych. Należy także unikać instalowania mikroskopu tuż pod klimatyzatorami lub wyciągami wentylacyjnymi. Ponadto zaleca się, aby mikroskop był instalowany na najniższych kondygnacjach docelowego budynku (piwnica lub parter). Firma LABSOFT zapewnia pełne wsparcie w przygotowaniu pomieszczeń do instalacji mikroskopu oraz przeprowadza proces samej instalacji. Nasi inżynierowie wykonują stosowne pomiary drgań i doradzają odpowiednią lokalizację mikroskopu.

  • (Polski) Czy urządzenie jest głośne i generuje inne uciążliwe czynniki?

    (Polski)

    Praca mikroskopu jest słyszalna w znikomym stopniu. Urządzenie nie jest uciążliwe ani szkodliwe dla otoczenia.

  • (Polski) Jakie są koszty części zużywalnych i eksploatacji urządzenia?

    (Polski)

    Materiałem eksploatacyjnym w mikroskopie sił atomowych są przede wszystkim sondy. Zużycie sond zależy od sposobu użytkowania i typu badanej próbki. W mikroskopie Dimension ICON ze względu na dostępność trybu PeakForce Tapping, zużycie sond jest zdecydowanie mniejsze niż w konwencjonalnych mikroskopach AFM. Ceny sond są zróżnicowane i zależą między innymi od zastosowania. Zachęcamy do zapoznania się z cenami sond na stronie producenta: http://www.brukerafmprobes.com/

Products

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.