Labsoft

LIGHT
MICROSCOPY

Complete solutions for industrial and research laboratories including stereoscope, digital, compound and confocal microscopes and CCD cameras and software

Mikroskopia Optyczna

ATOMIC FORCE
MICROSCOPY
AND PROFILOMETRY

AFM and SPM microscopes, wide range of operation modes and AFM probes, stylus and optical 3D surface profilers

Mikroskopia AFM

ELECTRON
MICROSCOPY
AND DUAL BEAM SYSTEMS

Full range of SEM, TEM and dual beam microscopes and analytical EDS, WDS, EBSD systems, cryo-techniques, litography, micromanipulators, sample preparation instruments and materials

Mikroskopia Elektronowa

SERVICE
AND SUPPORT

Specialized technical service, user training and application oriented suport

Serwis techniczny

THIN FILM
DEPOSITION,
SURFACE ANALYSIS

RIE, CVD, ALD and MBE reactors for surface modification and thin-film deposition, tribometers, scratch testers, ellipsometers and indentation testers for surface and layer characterization

Badanie warstw

M6 JETSTREAM

Bruker

Sorry, this entry is only available in Polish.

FAQ

  • (Polski) Jakie cechy, parametry mogę zbadać/zmierzyć tym urządzeniem?

    (Polski)

    Analiza pierwiastkowa dużych próbek, głównie dzieł sztuki i obiektów konserwacji zabytków, rdzeni wiertniczych i elementów urządzeń. Analiza jakościowa i ilościowa zawartości pierwiastków – od S bez atmosfery helu, lekkie pierwiastki z zastosowaniem atmosfery helu. Analizy w punkcie, wzdłuż linii oraz mapy zawartości w obszarach.

  • (Polski) Jak muszę przygotować próbkę?

    (Polski)

    Metoda µXRF jest nieniszczącą metodą dlatego przygotowanie próbki nie jest wymagane.

  • (Polski) Jakich rozmiarów i kształtu musi/może być próbka?

    (Polski)

    Bez ograniczeń, przy czym maksymalny pojedynczy obszar skanowania to 80 cm x 60 cm.

  • (Polski) Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może być zautomatyzowany?

    (Polski)

    Od kilku minut do  kilku godzin w zależności od zadanych w oprogramowaniu parametrów. Pomiar może być w pełni zautomatyzowany.

  • (Polski) W jakiej formie otrzymam wyniki, czy interpretacja jest trudna?

    (Polski)

    Wyniki można otrzymać w postaci widma XRF, wykresu zmian zawartości wzdłuż linii oraz w postaci mapy rozkładu pierwiastków.

  • (Polski) Jakiej obsługi wymaga urządzenie, jaki jest koszt eksploatacji, części zużywalne ?

    (Polski)

    Urządzenie jest proste w obsłudze, a jego oprogramowanie jest intuicyjne. Oprócz kosztów energii elektrycznej, jedyny koszt stanowi butla z helem (w przypadku analizy pierwiastków lekkich).

  • (Polski) Ile miejsca zajmuje urządzenie wraz z niezbędnymi urządzeniami pomocniczymi?

    (Polski)

    Maksymalny wymiar urządzenia: 140 cm x 180 cm x 156 cm (pozycja pozioma) oraz 140 cm x 65 cm x 225 cm (pozycja pionowa); waga: 200 kg.

  • (Polski) Czy urządzenie wymaga specjalnych warunków pomieszczenia?

    (Polski)

    Tak, przed instalacją urządzenia niezbędna jest konsultacja z inżynierem serwisu.

Products

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.