Labsoft

XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS

Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

ATOMIC FORCE
MICROSCOPY
AND PROFILOMETRY

AFM and SPM microscopes, wide range of operation modes and AFM probes, stylus and optical 3D surface profilers

Mikroskopia AFM

ELECTRON
MICROSCOPY
AND DUAL BEAM SYSTEMS

Full range of SEM, TEM and dual beam microscopes and analytical EDS, WDS, EBSD systems, cryo-techniques, litography, micromanipulators, sample preparation instruments and materials

Mikroskopia Elektronowa

SERVICE
AND SUPPORT

Specialized technical service, user training and application oriented suport

Serwis techniczny

THIN FILM
DEPOSITION,
SURFACE ANALYSIS

RIE, CVD, ALD and MBE reactors for surface modification and thin-film deposition, tribometers, scratch testers, ellipsometers and indentation testers for surface and layer characterization

Badanie warstw

Mikroskopy SEM

FEI Company

PRISMA E

Prisma E firmy ThermoFisher Scientific to nowoczesny i uniwersalny mikroskop SEM z działem wolframowym. Urządzenie pozwala rejestrować obrazy w wielu trybach pracy, w tym katodoluminescencyjne obrazy RGB. Komora mikroskopu posiada 12 portów dzięki czemu możliwa jest instalacja detektorów składu pierwiastkowego (EDS, WDS) i fazowego (EBSD) w każdej dostępnej i możliwej konfiguracji. Tryb niskiej próżni zwiększa zakres badanych próbek o próbki ładujące się bez konieczności dodatkowej preparatyki. Natomiast tryb ESEM pozwala na badanie próbek uwodnionych oraz umożliwia prowadzenie eksperymentów dynamicznych z wykorzystaniem stolika grzewczego i Peltiera. Wysoki stopień automatyzacji oszczędza czas pracy, zwłaszcza przy obrazowaniu i mapowaniu dużych powierzchni. Wielopozycyjny stolik próbek o dużym zakresie i dużym kącie pochyłu wraz z kamerą do nawigacji próbki dodatkowo poprawiają ergonomię pracy i produktywność mikroskopu. Prisma E to platforma dedykowana do działów badawczych, rozwojowych i kontroli jakości w firmach przemysłowych i produkcyjnych, ale również w laboratoriach naukowych, zwłaszcza metalograficznych i geologiczych.

link do strony producenta

QUATTRO

Quattro to uniwersalne mikroskopy SEM firmy ThermoFisher Scientific z działem polowym, dedykowane dla laboratoriów naukowych i przemysłowych, w których bada się szeroki zakres materiałów. Mikroskopy Quattro pracują w wysokiej i niskiej próżni oraz w trybie środowiskowym przy obecności gazów zewnętrznych. Obrazowanie struktury można prowadzić przy pomocy szerokiej gamy detektorów elektronów wtórnych, wstecznie rozproszonych i przechodzących, natomiast analizę składu chemicznego i fazowego przy pomocy (opcjonalnych) detektorów EDS, WDS i EBSD innych producentów. Opcjonalny układ opóźniania wiązki poprawia parametry mikroskopu w zakresie niskich energii.

Modele: C i S

link do strony producenta

APREO

Apreo

Apreo to zaawansowany i uniwersalny mikroskop SEM firmy FEI, w którym zastosowano wiele rozwiązań poprawiających wydajność, ergonomię, ułatwiających obsługę oraz rozszerzających możliwości badawcze. Kolumna elektronowa NiCol™ z działem SFEG umożliwia pracę systemu jako wysokopróżniowy, wysokorozdzielczy mikroskop SEM. Układ opóźniania wiązki zapewnia dobre parametry w zakresie niskich energii, już od 20 eV. Rozbudowany system detekcji elektronów obejmuje trzy detektory wewnątrzkolumnowe (układ Trinity), z których jeden posiada dwa segmenty, detektor ETD, pierścieniowo-segmentowy detektor CBS/ABS oraz prześwietleniowy detektor STEM3+. Możliwość niezależnego odczytu jednocześnie czterech sygnałów z aktywnych pól detektorów pozwala na szybką charakterystykę próbki oraz na dostrajanie kontrastu. System jest w pełni kompatybilny z detektorami EDS, WDS i EBSD. Dzięki zastosowaniu złożonej soczewki obiektywowej mikroskop może pracować w trybie immersji elektrostatycznej i (opcjonalnie) magnetycznej. Umożliwia to wysokorozdzielcze obrazowanie z pełnym wykorzystaniem możliwości wewnątrzkolumnowego systemu detekcji niezależnie od właściwości magnetycznych próbek. Mikroskop posiada opcję pracy w trybie niskopróżniowym.

Modele: C i S

link do strony producenta

VERIOS

Verios™ XHR firmy ThermoFisher Scientific to ultrawysokorozdzielczy mikroskop SEM czwartej generacji pracujący w warunkach wysokiej próżni, dedykowany do zaawansowanych badań materiałowych oraz metrologii na poziomie wymaganym przez współczesny przemysł elektroniczny. Zastosowanie działa polowego Elstar™ FEG, monochromatora wiązki, układu hamowania wiązki, soczewek o stałej mocy oraz szerokiej gamy specjalistycznych detektorów (TLD, ICD, MD, DBS) umożliwiło uzyskiwanie wysokokontrastowych obrazów powierzchni o rozdzielczości na poziomie 0,7 nm w szerokim zakresie energii od 1 do 30 keV. Ponadto, w oprogramowaniu zaimplementowano specjalne algorytmy skanowania redukujące ładowanie próbek o słabym przewodnictwie elektrycznym. Mikroskop można doposażyć w wielosektorowy wysuwany detektor STEM-III+ elektronów przechodzących.

link do strony producenta

Products

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.