Labsoft

XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS

Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

ATOMIC FORCE
MICROSCOPY
AND PROFILOMETRY

AFM and SPM microscopes, wide range of operation modes and AFM probes, stylus and optical 3D surface profilers

Mikroskopia AFM

ELECTRON
MICROSCOPY
AND DUAL BEAM SYSTEMS

Full range of SEM, TEM and dual beam microscopes and analytical EDS, WDS, EBSD systems, cryo-techniques, litography, micromanipulators, sample preparation instruments and materials

Mikroskopia Elektronowa

SERVICE
AND SUPPORT

Specialized technical service, user training and application oriented suport

Serwis techniczny

THIN FILM
DEPOSITION,
SURFACE ANALYSIS

RIE, CVD, ALD and MBE reactors for surface modification and thin-film deposition, tribometers, scratch testers, ellipsometers and indentation testers for surface and layer characterization

Badanie warstw

(Polski) SE 500adv

Sentech

Sorry, this entry is only available in Polish.

FAQ

  • (Polski) W jakich obszarach elipsometr laserowy znajduje swoje zastosowanie?

    (Polski)

    Głównymi obszarami wykorzystania elipsometrów laserowych są:

      • Mikroelektronika
      • Fotowoltaika
      • Półprzewodniki III-V
      • Chemia
      • Biologia, biotechnologia, life science
      • Technologia wyświetlaczy
      • Nośniki magnetyczne
      • Obróbka metali
  • (Polski) Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może zostać zautomatyzowany?

    (Polski)

    Dla pojedynczego pomiaru czas wyznaczenia widma to 120 ms …. 1.5 s (w zależności od wybranego modu pomiarowego). Tak krótki czasu pomiaru predysponuje zastosowanie urządzenia w aplikacjach in-situ, m.in. do pomiaru wsp. GPC (ang. growth per cycle) w procesie ALD. Łatwe w użyciu oprogramowanie umożliwia przeprowadzenie pomiaru po naciśnięciu jednego przycisku z wykorzystaniem zapisanych w pamięci definicji dla konkretnego rodzaju materiału, które mogą zostać opracowane przez producenta przed dostarczeniem urządzenia lub stworzone samodzielnie przez użytkownika

  • (Polski) Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    (Polski)

    Cena modelu SE 500adv to koszt rzędu 260 tyś. PLN netto w wersji podstawowej. W skład urządzenia w wersji podstawowej wchodzą: manualny goniometr z krokiem co 5º, stolik o średnicy 150 mm z ręczną regulacją przechyłu i przemieszczenia w osi Z, układ optyczny kompensator, polaryzator, analizator, oprogramowanie SE400 advanced do obsługi urządzenia i analizy wyników, komputer PC z systemem operacyjnym Windows7. Dla modelu SE 500adv zestaw obejmuje dodatkowo: reflektometr pracujący w zakresie 450-920 nm oraz niezbędne oprogramowanie FTP advanced.

Products

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.