Labsoft

LIGHT
MICROSCOPY

Complete solutions for industrial and research laboratories including stereoscope, digital, compound and confocal microscopes and CCD cameras and software

Mikroskopia Optyczna

ATOMIC FORCE
MICROSCOPY
AND PROFILOMETRY

AFM and SPM microscopes, wide range of operation modes and AFM probes, stylus and optical 3D surface profilers

Mikroskopia AFM

ELECTRON
MICROSCOPY
AND DUAL BEAM SYSTEMS

Full range of SEM, TEM and dual beam microscopes and analytical EDS, WDS, EBSD systems, cryo-techniques, litography, micromanipulators, sample preparation instruments and materials

Mikroskopia Elektronowa

SERVICE
AND SUPPORT

Specialized technical service, user training and application oriented suport

Serwis techniczny

THIN FILM
DEPOSITION,
SURFACE ANALYSIS

RIE, CVD, ALD and MBE reactors for surface modification and thin-film deposition, tribometers, scratch testers, ellipsometers and indentation testers for surface and layer characterization

Badanie warstw

SENDIRA

Sentech

Sorry, this entry is only available in Polish.

FAQ

  • (Polski) Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć elipsometrem SENDIRA?

    (Polski)

    SENDIRA jest nastołowym urządzeniem przeznaczonym do pracy w zakresie bliskiej podczerwieni, od 400 cm-1 do 6,000 cm-1 (25 µm – 1.7 µm). Technika skupia się na analizie pasm absorpcyjnych w uzyskanym widmie, związanych z przejściami oscylacyjnymi. Elipsometr umożliwia:

      • wyznaczenie grubości warstw
      • wyznaczenie współczynników załamania i ekstynkcji
      • analizę składu
      • identyfikację materiałów na podłożach transparentnych
      • detekcję zanieczyszczeń
      • określenie orientacji molekuł w materiałach organicznych
      • badanie przewodnictwa
      • wyznaczenie profili koncentracji domieszek.
  • (Polski) W jakich obszarach elipsometr SENDIRA znajduje swoje zastosowanie?

    (Polski)

    Głównymi obszarami wykorzystania elipsometru SENDIRA są:

      • Ultracienkie warstwy materiałów organicznych i nieorganicznych
      • Mikroelektronika, PV : profile koncentracji nośników
      • Fizyka: urządzenia IR
      • Chemia
      • Biologia, biotechnologia
  • (Polski) Czy możliwe jest podłączenie elipsometru do spektrofotometru FTIR, który jest w posiadaniu klienta?

    (Polski)

    Tak, możliwe jest podłączenie elipsometru SENDIRA do FTIR, który jest w posiadaniu klienta.
    Wymogiem jest by FTIR posiadał port, który umożliwi sprzężenie elipsometru SENDIRA z FTIR.

  • (Polski) W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    (Polski)

    Uzyskanie finalnego wyniku wymaga od użytkownika wykonania następujących kroków: pomiaru, modelowania (wybór modelu z istniejącej bazy dla otrzymanych wyników eksperymentalnych), analizy wyników (możliwie dokładne dopasowanie parametrów krzywej eksperymentalnej do parametrów krzywej modelowej) i przygotowania raportu (na zasadzie „drag&drop)”. Na początkowym, poznawczym etapie pracy z elipsometrem, użytkownik może liczyć na wsparcie producenta.

  • (Polski) Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    (Polski)

    Cena elipsometru SENDIRA to koszt rzędu 750 tyś. PLN netto w wersji podstawowej.
    Cena urządzenia w wersji podstawowej obejmuje spektrofotometr FTIR, układ autokolimujący, komputerowo sterowany goniometr (zakres kątowy 40-90°), manualny 150 mm stolik próbek, kompensator, polaryzator, oprogramowanie SpectraRay/4, Windows 7./p>

Products

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.