Labsoft

XRD, SCXRD DIFFRACTOMETERS,
EDXRF, WDXRF, μXRF SPECTROMETERS

Full range of powder and single crystal diffractometers and analytical XRF and microXRF spectrometers.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

ATOMIC FORCE
MICROSCOPY
AND PROFILOMETRY

AFM and SPM microscopes, wide range of operation modes and AFM probes, stylus and optical 3D surface profilers

Mikroskopia AFM

ELECTRON
MICROSCOPY
AND DUAL BEAM SYSTEMS

Full range of SEM, TEM and dual beam microscopes and analytical EDS, WDS, EBSD systems, cryo-techniques, litography, micromanipulators, sample preparation instruments and materials

Mikroskopia Elektronowa

SERVICE
AND SUPPORT

Specialized technical service, user training and application oriented suport

Serwis techniczny

THIN FILM
DEPOSITION,
SURFACE ANALYSIS

RIE, CVD, ALD and MBE reactors for surface modification and thin-film deposition, tribometers, scratch testers, ellipsometers and indentation testers for surface and layer characterization

Badanie warstw

SENresearch 4.0

Sentech

Sorry, this entry is only available in Polish.

FAQ

  • (Polski) Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć elipsometrem z serii SENresearch 4.0?

    (Polski)

    Elipsometr spektroskopowy z serii SENresearch 4.0 jest idealnym narzędziem do:

      • badania grubości
      • wyznaczania parametrów optycznych materiałów objętościowych, pojedynczych warstw izotropowych i anizotropowych oraz układów złożonych wielowarstwowych
      • wyznaczania chropowatości powierzchni oraz interfaz
      • badań materiałów z gradientem właściwości, powłok porowatych, ultra cienkich warstw, w tym warstw subnanometrycznych
      • badań efektu depolaryzacji
      • wyznaczenia 15 elementów macierzy Muellera.

    Możliwe jest wykonanie łączonych pomiarów fotometrycznych (tj. elipsometrycznych, odbiciowych, transmisyjnych).

  • (Polski) Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    (Polski)

    Badaniu elipsometrycznemu poddawane są próbki płaskorównoległe o niskim stopniu rozwinięcia powierzchni. Maksymalne wymiary próbek zależą od wymiarów stolika. Dostępne są stoliki o średnicy 6”, opcjonalnie 8” oraz 300 mm. Wysokość max. 8 mm. Producent dopuszcza możliwość dostarczenia stolika do badania próbek niestandardowych.

  • (Polski) Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może być zautomatyzowany ?

    (Polski)

    Czas pomiaru dla zakresu DUV-VIS jest na ogół krótszy niż 5 sekund, dla zakresu NIR wynosi ok. 10 sekund. Zakup opcji goniometru sterowanego komputerowo oraz stolika do mapowania próbek z automatycznym ustawieniem wysokości i pochyłu platformy, pozwala na pełne zautomatyzowanie pomiarów.

  • (Polski) W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    (Polski)

    Uzyskanie finalnego wyniku wymaga od użytkownika wykonania następujących kroków: pomiaru, modelowania (wybór modelu z istniejącej bazy dla otrzymanych wyników eksperymentalnych), analizy wyników (możliwie dokładne dopasowanie parametrów krzywej eksperymentalnej do parametrów krzywej modelowej) i przygotowania raportu (na zasadzie „drag&drop)”. Na początkowym, poznawczym etapie pracy z elipsometrem, użytkownik może liczyć na wsparcie producenta.

  • (Polski) Jaki jest przybliżony koszt zakupu urządzenia i rozpiętość cenowa zależnie od opcji?

    (Polski)

    Cena modelu SER 800 (240 – 1000 nm) to koszt rzędu 340 tyś. PLN netto w wersji podstawowej. Cena urządzenia w wersji podstawowej obejmuje układ autokolimujący, 5° manualny goniometr (zakres kątowy 40-90°), manualny 150 mm stolik próbek, kompensator, polaryzator, oprogramowanie SpectraRay/4, Windows 7, lampę halogenowo-deuterową. Dla modelu najwyższego z serii SENresearch 4.0, tj. SER 850 DUV (190 – 2500 nm, opcjonalnie do 3500 nm), koszt zakupu sprzętu wynosi ponad 650 tyś. PLN netto dla wersji podstawowej.

Products

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.