Labsoft

LIGHT
MICROSCOPY

Complete solutions for industrial and research laboratories including stereoscope, digital, compound and confocal microscopes and CCD cameras and software

Mikroskopia Optyczna

ATOMIC FORCE
MICROSCOPY
AND PROFILOMETRY

AFM and SPM microscopes, wide range of operation modes and AFM probes, stylus and optical 3D surface profilers

Mikroskopia AFM

ELECTRON
MICROSCOPY
AND DUAL BEAM SYSTEMS

Full range of SEM, TEM and dual beam microscopes and analytical EDS, WDS, EBSD systems, cryo-techniques, litography, micromanipulators, sample preparation instruments and materials

Mikroskopia Elektronowa

SERVICE
AND SUPPORT

Specialized technical service, user training and application oriented suport

Serwis techniczny

THIN FILM
DEPOSITION,
SURFACE ANALYSIS

RIE, CVD, ALD and MBE reactors for surface modification and thin-film deposition, tribometers, scratch testers, ellipsometers and indentation testers for surface and layer characterization

Badanie warstw

SenSol

Sentech

Sorry, this entry is only available in Polish.

FAQ

  • (Polski) Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć urządzeniem SenSol?

    (Polski)

    To jakie parametry można będzie zbadać zależy od finalnie ustalonej konfiguracji urządzenia, a w głównej mierze wybranych sensorów. Dostępne są m.in. głowice do pomiarów:
    – grubości powłok i lustrzanego odbicia w szerokim zakresie spektralnym
    – rezystancji powierzchniowej
    – stałych optycznych
    – transmitancji
    – zamglenia
    – i wiele innych.

  • (Polski) Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    (Polski)

    W podstawowym modelu badane mogą być gotowe panele szklane o wymiarach 110 cm x 140 cm oraz 110 cm x 130 cm. Panele o innych wymiarach: do ustalenia z producentem.
    Grubość tafli szkła bez i z powłok-ą/-ami w zakresie od 2 do 4 mm.

  • (Polski) W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    (Polski)

    W przypadku tego urządzenia, pomiar jest w pełni automatyczny. Zaawansowane ale łatwe w użytkowaniu oprogramowanie do mapowania właściwości tafli szkła, obsługuje proces pomiarowy oraz wykonuje obliczenia parametrów próbek z wykorzystaniem bogatej bazy z predefiniowanymi obiektami i stałymi materiałowymi.

  • (Polski) Jakie są gabaryty urządzenia wraz z niezbędnymi elementami pomocniczymi?

    (Polski)

    Wymiary zewnętrzne ~ 250 cm x 390 cm (szer. x dł.).

Products

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

(Polski) Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.