Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Harmonogram szkoleń FEI 2015

30-12-2014

Firma FEI podała harmonogram szkoleń podstawowych i aplikacyjnych na rok 2015 dla użytkowników mikroskopów transmisyjnych i skaningowych elektronowych oraz skaningowych jonowo-elektronowych. Harmonogram wraz z pełnym opisem szkoleń i możliwością rezerwacji poszczególnych terminów znajduje na stronie FEI Academy,  dostępnej po zalogowaniu się do serwisu FEI. Zakup tych szkoleń dla użytkowników w Polsce odbywa się poprzez firmę Labsoft.

Dla ułatwienia poniżej, w formie skondensowanej, podajemy daty wszystkich szkoleń.

Uwaga!

  1. Szkolenia mają ograniczoną ilość miejsc (zwykle 6-8)
  2. Terminy szkoleń mogą ulec zmianie. Aktualne dane znajdują się zawsze na stronie internetowej FEI Academy
Podstawowe Zaawansowane
TEM Tecnai Basic Course:
02-06 III 2015
01-05 VI 2015
07-11 IX 2015
02-06 XI 2015
Talos Basic:
02-06 III 2015
01-05 VI 2015
07-11 IX 2015
02-06 XI 2015
Tecnai Advanced Materials Science:
09-13 III 2015
08-12 VI 2015
14-18 IX 2015
09-13 XI 2015
Titan Advanced Materials Science:
09-13 III 2015 (brak miejsc)
08-12 VI 2015
02-06 XI 2015
Electron Tomography:
13-17 IV 2015
12-16 X  2015
Tecnai Advanced Life Science Cryo:
09-13 III 2015
05-09 X  2015
SEM Quanta FEG/Inspect FEG:
09-11 III 2015
01-03 VI 2015
07-09 IX 2015
02-04 XI 2015
Quanta/Inspect:
09-11 III 2015
01-03 VI 2015
07-09 IX 2015
02-04 XI 2015
Nova NanoSEM:
09-11 III 2015
01-03 VI 2015
07-09 IX 2015
02-04 XI 2015
Verios/Magellan:
09-11 XI 2015
ESEM (Peltier Cooling Stage):
12-13 III 2015
04-05 VI 2015
10-11 IX 2015
05-06 XI 2015
Heating Stage:
12-13 III 2015
10-11 IX 2015
Gunshot Residue (EA Malmedy, Belgia):
na zamówienie
DualBeam Quanta 3D (FEG)/Versa 3D:
10-13 II 2015
Helios 660 NanoLab:
09-11 III 2015
08-10 VI 2015
14-16 IX 2015
09-11 XI 2015
Scios:
09-11 III 2015
08-10 VI 2015
14-16 IX 2015
09-11 XI 2015
Patterning:
12-13 III 2015
17-18 IX 2015
TEM Sample Preparation:
12-13 III 2015
11-12 VI 2015
17-18 IX 2015
12-13 XI 2015
  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco