Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Harmonogram szkoleń FEI 2016

01-03-2016

Firma FEI podała harmonogram szkoleń podstawowych i aplikacyjnych na rok 2016 dla użytkowników mikroskopów transmisyjnych i skaningowych elektronowych oraz skaningowych jonowo-elektronowych. Harmonogram wraz z pełnym opisem szkoleń i możliwością rezerwacji poszczególnych terminów znajduje na stronie FEI Academy,  dostępnej po zalogowaniu się do serwisu FEI. Zakup tych szkoleń dla użytkowników w Polsce odbywa się poprzez firmę Labsoft.

Dla ułatwienia poniżej, w formie skondensowanej, podajemy daty wszystkich szkoleń.

Uwaga!

  1. Szkolenia mają ograniczoną ilość miejsc (zwykle 6-8)
  2. Terminy szkoleń mogą ulec zmianie. Aktualne dane znajdują się zawsze na stronie internetowej FEI Academy.
Podstawowe Zaawansowane
TEM Tecnai Basic Course
07-11 III 2016
06-10 VI 2016
12-16 IX 2016
07-11 XI 2016
Talos Basic
07-11 III 2016
06-10 VI 2016
12-16 IX 2016
07-11 XI 2016
TEM Advanced Materials Science
14-18 III 2016
13-17 VI 2016
19-23 IX 2016
14-18 XI 2016
Titan Advanced Materials Science
14-18 III 2016
13-17 VI 2016
07-11 XI 2016
Electron Tomography
18-22 IV 2016
17-21 X  2016
Tecnai Advanced Life Science Cryo
11-15 IV 2016
10-14 X  2016
Titan Krios
SEM Quanta FEG/Inspect FEG
07-09 III 2016
06-08 VI 2016
12-14 IX 2016
07-09 XI 2016
Quanta/Inspect
07-09 III 2016
06-08 VI 2016
12-14 IX 2016
07-09 XI 2016
Nova NanoSEM
07-09 III 2016
Verios/Magellan
ESEM (Peltier Cooling Stage)
10-11 III 2016
09-10 VI 2016
15-16 IX 2016
10-11 XI 2016
Heating Stage

Gunshot Residue (EA Malmedy, Belgia)
na zamówienie
DualBeam Quanta 3D (FEG)/Versa 3D

Helios 660 NanoLab
14-16 III 2016
13-15 VI 2016
19-21 IX 2016
14-16 XI 2016
Scios
14-16 III 2016
13-15 VI 2016
19-21 IX 2016
14-16 XI 2016
Patterning

TEM Sample Preparation
17-18 III 2016
16-17 VI 2016
22-23 IX 2016
17-18 XI 2016s
  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco