DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

22-11-2015
W dniach 24-25 XI 2015 w siedzibie Państwowego Instytutu Geologicznego – Państwowego Instytutu Badawczego w Warszawie przy ul. Rakowieckiej 4 odbędzie się konferencja:
„Zmiany klimatyczne w przeszłości geologicznej”
Na konferencji będą prezentowane wyniki badań zmian klimatycznych w szerokim kontekście czasowym – od najdawniejszych epok do dzisiaj. Tematyka ta znajduje szerokie zainteresowanie naukowe, ale i duże zapotrzebowanie społeczne. W konferencji wezmą udział specjaliści z zakresu zagadnień paleoklimatycznych, które obejmują takie dyscypliny naukowe jak paleobotanika, paleontologia, geologia izotopowa, badania termiki skał, badanie składu atmosfery, datowanie skał, geotektonika, paleogeografia, klimatostratygrafia, mineralogia i geochemia.
Pełny program znajduje się na stronie www konferencji.
Firmy FEI Company, jako producent urządzeń stosowanych m.in. w geologii, mineralogii i petrografii, oraz Labsoft, jako ich dostawca w Polsce, zostały sponsorami Konferencji. W naszej ofercie znajdują się automatyczne analizatory mineralogiczne, mikrotomografy CT, elektronowe mikroskopy skaningowe wraz z detektorami do analizy składu fazowego oraz mikroskopy świetlne.
Serdecznie zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska, gdzie będzie można uzyskać informacje o oferowanych przez nas produktach, pobrać materiały informacyjne oraz porozmawiać o zastosowaniach. Ponadto, posiadać będziemy trzy mikroskopy świetlne firmy Leica – zapraszamy do sprawdzenia ich możliwości.