Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Książki i publikacje związane z AFM/SPM

22-01-2014

Poniżej przedstawiamy listę książek, artykułów przeglądowych oraz prezentacji on-line związanych z mikroskopią SPM/AFM, które naszym zdaniem mogą okazać się przydatne użytkownikom tych mikroskopów. Lista będzie sukcesywnie uzupełniana w czasie. Po kliknięciu w nazwę materiału zostaniecie Państwo przekierowani na odpowiednią stronę internetową; w przypadku książek jest to serwis Google Books.

Wiedza podstawowa:

Bruker Guide to SPM & AFM Modes – krótki opis wszystkich trybów pomiarowych dostępnych w mikroskopach SPM i AFM. Opis każdego trybu zawiera podstawę działania, schemat układu akwizycji, przykładowy obraz i typy przeznaczonych do niego igieł firmy Bruker.

Książki:

G. Haugstad, Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications, Wiley 2012

R. Garcia, Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy, Wiley-VCH 2010

P. C. Braga (ed.), D. Ricci (ed.), Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications, Humana Press Inc. 2004

E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip, Springer-Verlag 2004

F. Marinello (ed.), D. Passeri (ed.), E. Savio (ed.), Acoustic Scanning Probe Microscopy, Springer 2012

V. V. Tsukruk, S. Singamaneni, Scanning Probe Microscopy of Soft Matter: Fundamentals and Practices, Wiley-VCH 2012

Artykuły przeglądowe w czasopismach:

Three decades of scanning tunnelling microscopy that changed the course of surface science – specjalne wydanie Journal of Physics D: Applied Physics (44, 2011) z okazji 30 rocznicy powstania mikroskopu STM. Wydanie zawiera 11 artykułów przeglądowych, które dotyczą STM oraz innych technik SPM. Pełen dostęp dla instytucji z wykupionym abonamentem do bazy IoP Science.

Dynamic atomic force microscopy methods – artykuł przeglądowy autorstwa R. Garcia i R. Perez opublikowany w Surface Science Reports 47 (2002) 197-301. Zawiera szczegółowe informacje odnośnie podstaw fizycznych i praktyki mikroskopii AFM w trybach kontaktu przerywanego (tapping mode) i bezkontaktowym. Ze względu na przejrzyste przedstawienie tematu zalecany również użytkownikom, dla których AFM nie jest główną techniką badawczą. Pełen dostęp dla instytucji z wykupionym abonamentem do bazy ScienceDirect.

Prezentacje on-line:

AFM Webinars – strona z darmowym dostępem do seminariów internetowych z tematyki AFM o różnym stopniu zaawansowania, które są cyklicznie organizowane przez firmę Bruker. Seminaria archiwalne (od 2012) dostępne są w postaci nagrań wideo i/lub prezentacji. Nowe seminaria odbywają się w czasie rzeczywistym.

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco