Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Nasza obecność na konferencjach IX’2015

05-09-2015

W miesiącu wrześniu 2015 przedstawiciele firmy Labsoft będą uczestniczyć w następujących konferencjach naukowych:

  • XLIX Sympozjum Polskiego Towarzystwa Histochemików i Cytochemików, 9-12 września, hotel Amber Baltic, Międzyzdroje. W dniu 10 IX o godz. 17.15 zostanie wygłoszona prezentacja “The latest developments in electron microscopy workflows for biological cryo applications” poświęcona rozwiązaniom firmy FEI dla nauk biologicznych i medycznych;
  • Ogólnopolska Konferencja Tribologiczna 2015, 14-17 września, Zamek w Rydzynie, Rydzyna. Na naszym stanowisku dostępny będzie tribotester UMT TriboLab firmy Bruker. Zachęcamy do wypróbowania możliwości tego urządzenia na własnych próbkach;
  • Workshop on high-resolution transmission electron microscopy – from sample preparation to interpretation, 21-25 września, Instytut Fizyki PAN, Warszawa. W czasie warsztatów dr inż. Sebastian Arabasz przedstawi prezentację “Focused Ion Beam preparation: fundamentals, capabilities and good practice” oraz przeprowadzi sesję praktyczną przy mikroskopie SDB Helios;
  • DifSoft, Worshop on Software for TEM Diffraction Patterns Analysis, 25-27 września, hotel Mercure Dosłońce Conference & SPA, Racławice k/Krakowa.

Serdecznie zachęcamy Państwa do odwiedzania naszych stoisk, gdzie będzie można uzyskać informacje o oferowanych przez nas produktach, pobrać materiały informacyjne oraz porozmawiać o zastosowaniach. W przypadku dostępności urządzeń demonstracyjnych, zachęcamy Państwa do sprawdzenia ich możliwości na swoich próbkach.

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco