Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Labsoft w 19 Pikniku Naukowym

30-05-2015

W dniu 9 maja 2015 na Stadionie Narodowym w Warszawie odbył się Piknik Naukowy Polskiego Radia i Centrum Nauki Kopernik. To już 19 edycja tej wspaniałej, największej w Europie imprezy plenerowej, której głównym celem jest popularyzacja nauki, jej osiągnięć oraz przybliżenie warsztatu i pracy naukowców.

W tym roku firma Labsoft udostępniła na potrzeby Pikniku nastołowy, skaningowy elektronowy mikroskop elektronowy COX EM-30, który wyposażył stanowisko Centrum Badań Ziemi i Planet GeoPlanet.

GeoPlanet_podziękowania

Centrum GeoPlanet to wspólna inicjatywa czterech instytutów PAN: Instytutu Geofizyki, Instytutu Nauk Geologicznych, Instytutu Oceanologii oraz Centrum Badań Kosmicznych.

COX EM-30 to nastołowy mikroskop elektronowy pozwalający na obrazowanie z kontrastem topograficznym i liczby atomowej nie tylko materiałów przewodzących, ale również o słabym przewodnictwie elektrycznym i niekompatybilnych z wysoką próżnią. Mimo, że jest to mikroskop nastołowy, to parametry jego pracy można kontrolować na poziomie spotykanym w typowych, dużych mikroskopach SEM.

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco