Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Pokaz analizatora μXRF Orbis

12-09-2014

Edax Inc. oraz Labsoft zapraszają na prezentację możliwości analizatora μXRF Orbis, która odbędzie się podczas konferencji XV International Conference on Electron Microscopy w Krakowie. Urządzenie będzie dostępne w dniach 15-18 IX 2014 w Hotelu Galaxy przy ul. Gęsiej 22a, 31-535 Kraków.

Wszystkich zainteresowanych serdecznie zapraszamy i zachęcamy do zabrania własnych próbek o wymiarach nie przekraczających 10 cm x 10 cm x 5 cm.

Orbis to spektrometr mikrofluorescencji rentgenowskiej (μXRF) z dyspersją energii który umożliwia badanie składu chemicznego próbek litych, proszków, płynów, zawiesin w zakresie pierwiastków od sodu do berkelu. Spektrometr analizuje charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie, które jest wtórnie emitowane po oświetleniu próbki wiązką promieniowania z lampy rentgenowskiej. Próbki nie wymagają wstępnej preparatyki i mogą być badane w próżni i w powietrzu. Duża komora pozwala na prowadzenie badań próbek o złożonej geometrii. Intuicyjne oprogramowanie Orbis Vision umożliwia automatyczną rejestrację widm, ich obróbkę i analizę ilościową. Dostępne są dodatkowe moduły do rejestracji map i profili zawartości pierwiastków, analizy składu i grubości warstw wierzchnich oraz do identyfikacji stopów. Dostępne jest wersja standardowa oraz wersja PC z optyką polikapilarną o mniejszej średnicy wiązki, która jest zoptymalizowana do analizy mniejszych obiektów.

Zaproszenie

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco