Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Pokaz możliwości spektrometru μXRF M1 Mistral

21-03-2019

Szanowni Państwo!

Serdecznie zapraszamy na pokaz działania spektrometru mikrofluorescencji rentgenowskiej (mXRF) M1 MISTRAL firmy Bruker Nano. Pokaz odbędzie się w dniu 29 marca 2019, o godz. 11.00-16.00 w siedzibie firmy Labsoft przy ul. Puławskiej 469 w Warszawie. PROSIMY PAŃSTWA O ZABRANIE PRÓBKI DO ANALIZY!

M1 MISTRAL jest laboratoryjnym spektrometrem przystosowanym do bezpośredniego i nieniszczącego badania próbek pod kątem zawartości pierwiastków, bez konieczności specjalnego przygotowywania. Główne zastosowania:

  • Możliwość wykonania wielopunktowej analizy (tzw. mapowanie) np. w badaniach próbek biologicznych lub geologicznych,
  • Analiza pierwiastkowa nośników krzemowych (wafle),
  • Badanie substancji niebezpiecznych, przenikających do środowiska z odpadów elektrycznych i elektronicznych, w odniesieniu do normy RoHS,
  • Analiza grubości warstw/powłok, np. powłok galwanicznych, lakierniczych, biżuterii,
  • Charakterystyka powłok np. płytki/płyty obwodów drukowanych PCB (elektronicznych) zgodnie z normami ASTM B568 i DIN/ISO 3497.

Więcej informacji można znaleźć na stronie producenta.

Pokaz spektrometru MISTRAL jest bezpłatny i nie wiąże się z koniecznością jego zakupu. Podczas jego trwania przewidujemy przerwy kawowe oraz zaoferujemy Państwu ciepły posiłek.

Pełny program pokazu znajduje się tutaj.

Jednocześnie informujemy, że w dniach 26-28 marca będziemy obecni na XXVII Targach Przemysłowej Techniki Pomiarowej CONTROL-STOM w Kielcach, w Hali F, stanowisko F-47. Zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska, gdzie będzie można zobaczyć spektrometr i porozmawiać o ofercie naszej firmy.

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco