DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

08-05-2017
Szanowni Państwo,
Serdecznie zapraszamy na serię pokazów możliwości i zastosowań profilometru stykowego DektakXT firmy Bruker. Pokazy odbędą się w Warszawie, Poznaniu i Wrocławiu w dniach 22 – 26 maja. Dokładny harmonogram zostanie podany w późniejszym terminie.
W trakcie pokazów istnieje możliwość sprawdzenia możliwości urządzenia na własnych próbkach. Wszystkie zainteresowane osoby uprzejmie prosimy o wcześniejszy kontakt z Jakubem Banaszkiem – tel. +48 695 723 00, e-mail: jb(at)labsoft.pl.
Profilometr DektakXT pozwala uzyskać informacje o topografii powierzchni i o wysokości stopnia na powierzchni w nanoskali.
DektakXT – prezentacja: