Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Pokazy możliwości profilometru DektakXT

08-05-2017

Szanowni Państwo,

Serdecznie zapraszamy na serię pokazów możliwości i zastosowań profilometru stykowego DektakXT firmy Bruker. Pokazy odbędą się w Warszawie, Poznaniu i Wrocławiu w dniach 22 – 26 maja. Dokładny harmonogram zostanie podany w późniejszym terminie.

W trakcie pokazów istnieje możliwość sprawdzenia możliwości urządzenia na własnych próbkach. Wszystkie zainteresowane osoby uprzejmie prosimy o wcześniejszy kontakt z Jakubem Banaszkiem – tel. +48 695 723 00, e-mail: jb(at)labsoft.pl.

Profilometr DektakXT pozwala uzyskać informacje o topografii powierzchni i o wysokości stopnia na powierzchni w nanoskali.

DektakXT – prezentacja:

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco