Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Pokazy możliwości scratch testera Revetest RST

06-04-2014

Firma Labsoft zaprasza na serię pokazów możliwości badawczych scratch testera Revestest RST firmy CSM Instruments. Całodzienne pokazy odbędą się zgodnie z następującym harmonogramem:

  • 07-08.04.2014 – Politechnika Wrocławska, Instytut Spawalnictwa, ul. Ignacego Łukasiewicza 5, bud. B9, piętro V,
  • 09.04.2014 – Politechnika Opolska, Wydział Mechaniczny, ul. Mikołajczyka 5, sala B 225,
  • 10.04.2014 – Politechnika Śląska, Wydział Inżynierii Materiałowej w Katowicach, ul. Krasińskiego 8, piętro I,
  • 17.04.2014 – Politechnika Śląska w Gliwicach, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, ul. Konarskiego 18a, parter,
  • 22-24.04.2014 – Akademia Górniczo-Hutnicza, al. Mickiewicza 30, Kraków,
  • 25.04.2014 – Instytut Odlewnictwa w Krakowie, ul. Zakopiańska 73.

Revetest RST służy do wykonywania testów zarysowania i na podstawie ich analizy dostarcza informacje o:

  • profilu powierzchni – profil ten jest uwzględniony przy dostosowywaniu obciążenia z jakim zarysowywana jest powierzchnia/powłoka,
  • głębokości rysy – głębokość rejestrowana w trakcie zarysowania,
  • głębokości po zarysowaniu – pozwala ocenić w jakim stopniu po zarysowaniu powierzchnia/powłoka odkształciła się elastycznie,
  • współczynniku tarcia,
  • emisji akustycznej – pozwala ocenić rzeczywisty moment krytycznego obciążenia, przy którym następuje pęknięcie powłoki,
  • pełnym obrazie rysy.

W trakcie pokazów istnieje możliwość badania własnych próbek. Wszystkie zainteresowane osoby uprzejmie prosimy o kontakt z Marią Dużyją (Labsoft) pod nr tel. 885 666 646 lub mailowo md(at)labsoft.pl.

Zaproszenie na pokaz RST

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco