Firma Labsoft zaprasza na prezentację „Porównanie możliwości badawczych mikroskopów (C)TEM oraz (D)STEM w zastosowaniach dla inżynierii materiałowej”, która zostanie przedstawiona w dniu 18 III 2014 o godz. 12.00 na:

Wydziale Inżynierii Materiałowej i Metalurgii
Politechniki Śląskiej
Katowice, ul. Krasińskiego 8

Prezentację wygłosi dr inż. Sebastian Arabasz (Labsoft). W prezentacji zostaną omówione zalety klasycznych transmisyjnych mikroskopów elektronowych (CTEM) w zakresie inżynierii materiałowej. Przedstawione zostaną między innymi klasyczne techniki pola jasnego i ciemnego, obrazowanie w warunkach dwuwiązkowych i z wykorzystaniem słabej wiązki do analizy defektów oraz mikroskopia Lorentza do obrazowania domen magnetycznych. Techniki CTEM zostaną porównane z możliwościami dedykowanych mikroskopów skaningowo-transmisyjnych (DSTEM).

Dodatkowo, po w/w prezentacji zostaną przedstawione możliwości i parametry stołowych elektronowych mikroskopów skaningowych firmy Phenom-World.