Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

μXRF Orbis

Edax

Orbis to spektrometr mikrofluorescencji rentgenowskiej (μXRF) z dyspersją energii firmy Edax Inc. Umożliwia on badanie składu chemicznego próbek litych, proszków, płynów, zawiesin w zakresie pierwiastków od sodu do berkelu. Spektrometr analizuje charakterystyczne promieniowanie X, które jest wtórnie emitowane po oświetleniu próbki wiązką promieniowania z lampy rentgenowskiej. Próbki nie wymagają wstępnej preparatyki i mogą być badane w próżni i w powietrzu, a ze względu na dużą komorę ich kształt może być złożony. Standardowe wyposażenie to źródło z anodą Rh, automatyczny uchwyt z sześcioma filtrami, dwie kolorowe kamery CCD do zgrubnego i dokładnego pozycjonowania próbki oraz chłodzony termoelektrycznie detektor SDD o powierzchni aktywnej 30 mm2. Opcjonalnie można zastosować detektor 50 mm2, anodę Mo, przeźroczyste okienko do obserwacji próbek oraz kolimatory 1 lub 2 mm do formowania wiązki o większej średnicy. Intuicyjne oprogramowanie Orbis Vision umożliwia automatyczną rejestrację widm, ich obróbkę i analizę ilościową. Dostępne są dodatkowe moduły do wykonywania map i profili zawartości pierwiastków, analizy składu i grubości warstw wierzchnich oraz do identyfikacji stopów. Dostępne jest wersja standardowa oraz PC o mniejszej średnicy wiązki, która jest zoptymalizowana do analizy mniejszych obiektów.

Modele: Orbis SDD (optyka monokapilarna, średnica wiązki 300 lub 100 μm), Orbis PC SDD (optyka polikapilarna, średnica wiązki 30 μm, dokładniejszy stolik próbki)

formularz kontaktowy

Model 3D spektrometru Orbis

Wykorzystanie spektrometru Orbis do analizy nieniszczącej

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco