DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

W naszej ofercie znajdują się mikroskopy AFM (AFM, Atomic Force Microscopy) firmy Bruker Inc. Aktualnie dostępne modele przeznaczone dla inżynierii materiałowej opisano poniżej. Celem doboru mikroskopu i uzyskania dodatkowych informacji prosimy o kontakt przez formularz kontaktowy.
Dimension FastScan to uniwersalny mikroskop AFM firmy Bruker charakteryzujący się bardzo dużą szybkością akwizycji obrazów, porównywalną z mikroskopami SEM, oraz bogatym zakresem trybów pracy. Umożliwia on badanie dużych próbek o średnicy do 210 mm i grubości do 15 mm w zakresie temperatur od -35 do 250 °C. Mikroskop posiada dwie głowice skanujące – FastScan i Icon. Ultraszybka głowica FastScan umożliwia uzyskiwać obrazy wysokorozdzielcze o doskonałej jakości już przy szybkości skanowania 20 Hz, a z zastosowaniem algorytmu ScanAssyst nawet przy 6 Hz. Dzięki temu mikroskop ten jest dedykowany do badania zmian morfologii i właściwości powierzchni w trakcie eksperymentów dynamicznych. Wolniejsza głowica Icon o bardzo niskim poziomie szumu rozszerza możliwości o wszystkie tryby pracy dostępne w mikroskopie Dimension Icon, a w szczególności o pomiary elektryczne. Obsługa mikroskopu jest ułatwiona poprzez automatyczne procedury justowania detektora i lasera oraz zastosowanie zmotoryzowanego stolika. Ponadto, oprogramowanie MIRO umożliwia szybką optyczną nawigację próbki.
Dimension FastScan – prezentacja video:
Dimension FastScan Bio – prezentacja video:
Dimension FastScan – przykłady obserwacji AFM
Dimension Icon to wszechstronny mikroskop AFM firmy Bruker, który pracuje w układzie skanowania sondą. Umożliwia on badanie dużych próbek o średnicy do 210 mm i grubości do 15 mm, dzięki czemu jest dedykowany zarówno do laboratoriów naukowych, jak i przemysłowych. Ponadto, opcjonalnie możliwe jest prowadzenie pomiarów w zakresie temperatur od -35 do 250 °C oraz lokalne podgrzewanie próbki do temperatury 400 °C. Ten prosty w obsłudze mikroskop charakteryzuje się wysoką rozdzielczością, dużą szybkością skanowania oraz wyjątkowo niskim dryfem i poziomem szumu. Wysokiej jakości układ optyczny ułatwia precyzyjny wybór pola skanowania. Zaawansowany kontroler Nanoscope V umożliwia jednoczesną akwizycję do ośmiu sygnałów. Oprócz podstawowych trybów obrazowania, w mikroskopie wprowadzono nowe rozwiązania m. in.: tryb PeakForce QNM do obrazowania właściwości mechanicznych, tryb PeakForce Tuna do mapowania przewodności elektrycznej próbek delikatnych. Oryginalny algorytm ScanAsyst, dobierający automatycznie parametry skanowania, oprogramowanie Nanoscope z gotowymi procedurami badawczymi, możliwość tworzenia własnych skryptów oraz zmotoryzowany stolik wyraźnie zmniejszają czas do uzyskania wyników.
MultiMode 8-HR to uniwersalny mikroskop AFM firmy Bruker, pracujący w układzie skanowania próbki i bazujący na rozwijanej od wielu lat platformie MultiMode. Przeznaczony jest on do badania próbek biologicznych i materiałowych o średnicy do 15 mm i grubości do 5 mm w powietrzu oraz w cieczach. Ponadto, opcjonalnie możliwe jest prowadzenie pomiarów w podwyższonych (do 250 °C) i obniżonych (do -35 °C) temperaturach oraz w komorze rękawicowej. Ten prosty w obsłudze mikroskop, dzięki zwartej i sztywnej konstrukcji oraz zaawansowanemu kontrolerowi Nanoscope V, osiąga najwyższą na rynku rozdzielczość przy najniższym poziomie szumów. Oprócz podstawowych trybów obrazowania AFM, zastosowano w nim nowe rozwiązania m. in.: ulepszony tryb z przerywanym kontaktem PeakForce Tapping, tryb PF-QNM do obrazowania właściwości mechanicznych i tryb PF-Tuna do mapowania przewodności elektrycznej próbek delikatnych. Ponadto, zastosowano oryginalny i wygodny algorytm ScanAsyst automatycznie dobierający optymalne parametry skanowania oraz algorytm ScanAsyst-HR znacznie przyspieszający uzyskiwanie danych.