Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

AFM materials science

Bruker

W naszej ofercie znajdują się mikroskopy AFM (AFM, Atomic Force Microscopy) firmy Bruker Inc. Aktualnie dostępne modele przeznaczone dla inżynierii materiałowej opisano poniżej. Celem doboru mikroskopu i uzyskania dodatkowych informacji prosimy o kontakt przez formularz kontaktowy.

»Dimension FastScan     »Dimension Icon     »MultiMode 8-HR

Dimension FastScan

Dimension FastScan to uniwersalny mikroskop AFM firmy Bruker charakteryzujący się bardzo dużą szybkością akwizycji obrazów, porównywalną z mikroskopami SEM, oraz bogatym zakresem trybów pracy. Umożliwia on badanie dużych próbek o średnicy do 210 mm i grubości do 15 mm w zakresie temperatur od -35 do 250 °C. Mikroskop posiada dwie głowice skanujące – FastScan i Icon. Ultraszybka głowica FastScan umożliwia uzyskiwać obrazy wysokorozdzielcze o doskonałej jakości już przy szybkości skanowania 20 Hz, a z zastosowaniem algorytmu ScanAssyst nawet przy 6 Hz. Dzięki temu mikroskop ten jest dedykowany do badania zmian morfologii i właściwości powierzchni w trakcie eksperymentów dynamicznych. Wolniejsza głowica Icon o bardzo niskim poziomie szumu rozszerza możliwości o wszystkie tryby pracy dostępne w mikroskopie Dimension Icon, a w szczególności o pomiary elektryczne. Obsługa mikroskopu jest ułatwiona poprzez automatyczne procedury justowania detektora i lasera oraz zastosowanie zmotoryzowanego stolika. Ponadto, oprogramowanie MIRO umożliwia szybką optyczną nawigację próbki.

Dimension FastScan – prezentacja video:

Dimension FastScan Bio – prezentacja video:

Dimension FastScan – przykłady obserwacji AFM


Dimension Icon

Dimension Icon to wszechstronny mikroskop AFM firmy Bruker, który pracuje w układzie skanowania sondą. Umożliwia on badanie dużych próbek o średnicy do 210 mm i grubości do 15 mm, dzięki czemu jest dedykowany zarówno do laboratoriów naukowych, jak i przemysłowych. Ponadto, opcjonalnie możliwe jest prowadzenie pomiarów w zakresie temperatur od -35 do 250 °C oraz lokalne podgrzewanie próbki do temperatury 400 °C. Ten prosty w obsłudze mikroskop charakteryzuje się wysoką rozdzielczością, dużą szybkością skanowania oraz wyjątkowo niskim dryfem i poziomem szumu. Wysokiej jakości układ optyczny ułatwia precyzyjny wybór pola skanowania. Zaawansowany kontroler Nanoscope V umożliwia jednoczesną akwizycję do ośmiu sygnałów. Oprócz podstawowych trybów obrazowania, w mikroskopie wprowadzono nowe rozwiązania m. in.: tryb PeakForce QNM do obrazowania właściwości mechanicznych, tryb PeakForce Tuna do mapowania przewodności elektrycznej próbek delikatnych. Oryginalny algorytm ScanAsyst, dobierający automatycznie parametry skanowania, oprogramowanie Nanoscope z gotowymi procedurami badawczymi, możliwość tworzenia własnych skryptów oraz zmotoryzowany stolik wyraźnie zmniejszają czas do uzyskania wyników.


MultiMode 8-HR

MultiMode 8-HR  to uniwersalny mikroskop AFM firmy Bruker, pracujący w układzie skanowania próbki i bazujący na rozwijanej od wielu lat platformie MultiMode. Przeznaczony jest on do badania próbek biologicznych i materiałowych o średnicy do 15 mm i grubości do 5 mm w powietrzu oraz w cieczach. Ponadto, opcjonalnie możliwe jest prowadzenie pomiarów w podwyższonych (do 250 °C) i obniżonych (do -35 °C) temperaturach oraz w komorze rękawicowej. Ten prosty w obsłudze mikroskop, dzięki zwartej i sztywnej konstrukcji oraz zaawansowanemu kontrolerowi Nanoscope V, osiąga najwyższą na rynku rozdzielczość przy najniższym poziomie szumów. Oprócz podstawowych trybów obrazowania AFM, zastosowano w nim nowe rozwiązania m. in.: ulepszony tryb z przerywanym kontaktem PeakForce Tapping, tryb PF-QNM do obrazowania właściwości mechanicznych i tryb PF-Tuna do mapowania przewodności elektrycznej próbek delikatnych. Ponadto, zastosowano oryginalny i wygodny algorytm ScanAsyst automatycznie dobierający optymalne parametry skanowania oraz algorytm ScanAsyst-HR znacznie przyspieszający uzyskiwanie danych.


Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.