DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

Dimension FastScan to uniwersalny mikroskop SPM firmy Bruker charakteryzujący się bardzo dużą szybkością akwizycji obrazów, porównywalną z mikroskopami SEM, oraz bogatym zakresem trybów pracy. Umożliwia on badanie dużych próbek o średnicy do 210 mm i grubości do 15 mm w zakresie temperatur od -35 do 250 °C. Mikroskop posiada dwie głowice skanujące – FastScan i Icon. Ultraszybka głowica FastScan umożliwia uzyskiwanie obrazów wysokorozdzielczych o doskonałej jakości już przy szybkości skanowania 20 Hz, a z zastosowaniem algorytmu ScanAssyst nawet przy 6 Hz. Dzięki temu mikroskop ten jest dedykowany do badania zmian morfologii i właściwości powierzchni w trakcie eksperymentów dynamicznych. Wolniejsza głowica Icon o bardzo niskim poziomie szumu rozszerza możliwości o wszystkie tryby pracy dostępne w mikroskopie Dimension Icon, a w szczególności o pomiary elektryczne. Obsługa mikroskopu jest ułatwiona poprzez automatyczne procedury justowania detektora i lasera oraz zastosowanie zmotoryzowanego stolika. Ponadto, oprogramowanie MIRO umożliwia szybką optyczną nawigację próbki.
Wszystkich zainteresowanych zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy
Inne mikroskopy AFM/SPM: BioScope Catalyst, Bioscope Resolve, Dimension Icon, MultiMode 8
Produkty powiązane: sondy i akcesoria AFM, platformy antywibracyjne
Dimension FastScan – prezentacja video:
Dimension FastScan Bio – prezentacja video:
Dimension FastScan – przykłady obserwacji AFM
Mikroskopy sił atomowych są potężnym narzędziem badawczym stworzonym do badania topografii, a także innych właściwości powierzchni – elektrycznych, elektrochemicznych, magnetycznych, nanomiechanicznych czy też cieplnych. Mapowanie topografii i innych właściwości odbywa się z rozdzielczością od kilkunastu nanometrów do ok. 1 nm. Ponadto, ze względu na bardzo wysoką szybkość skanowania, mikroskop Dimension FastScan pozwala na uzyskiwanie informacji o dynamice procesów, np. o zmianach fazowych pod wpływem zmian temperatury.
Dimension FastScan jest mikroskopem umożliwiającym pomiary dużych próbek, tj. o średnicy do 210 mm. Wysokość próbki nie powinna przekraczać 15 mm.
Mikroskopy sił atomowych dedykowane są do próbek stosunkowo płaskich. Przygotowując próbkę należy mieć na uwadze zakres pomiarowy skanera w osi Z, który w przypadku mikroskopu Dimension FastScan wynosi 3 µm. Bardziej wymagające pomiary, np. elektryczne mogą wymagać dodatkowych zabiegów. W przypadku takich zaawansowanych zastosowań sugerujemy kontakt z naszymi specjalistami aplikacyjnymi.
Przeciętny pomiar trwa około kilkadziesiąt sekund. Chcąc zaobserwować dynamikę procesu można go skrócić nawet do kilku sekund. Mikroskop Dimension FastScan umożliwia automatyzację procesu pomiarowego poprzez: zaprogramowanie stolika, tworzenie skryptów pomiarowych lub zastosowanie opcjonalnego pakietu AutoMET z funkcją lokalizacji miejsca na próbce.
Wyniki topografii otrzymuje się w postaci trójwymiarowej mapy powierzchni. Interpretacja wyników zależy od doświadczenia użytkownika, jednakże są one przedstawione w czytelnej i przejrzystej formie. Należy pamiętać, że mikroskop AFM umożliwia także pomiary innych właściwości (np. nanomechanicznych). W takim wypadku poza topografią powierzchni otrzymuje się przykładowo mapę rozkładu modułu Younga czy rozkładu adhezji pomiędzy ostrzem a próbką. Co ważne, mapy topografii i innych właściwości mogą być ze sobą ściśle skorelowane.
Dimension FastScan wraz z komorą akustyczną zajmuje powierzchnię ok. 1,5 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane jest za pośrednictwem kontrolerów przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego. Należy także zwrócić uwagę, aby zapewnić swobodny dostęp do elementów mikroskopu.
Dimension FastScan jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała odpowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz nie było zapylenia. Muszą być również spełnione odpowiednie wymogi odnośnie drgań mechanicznych i akustycznych. Należy także unikać instalowania mikroskopu tuż pod klimatyzatorami lub wyciągami wentylacyjnymi. Ponadto zaleca się, aby mikroskop był instalowany na najniższych kondygnacjach docelowego budynku (piwnica lub parter). Firma LABSOFT zapewnia pełne wsparcie w przygotowaniu pomieszczeń do instalacji mikroskopu oraz przeprowadza proces samej instalacji. Nasi inżynierowie wykonują stosowne pomiary drgań i doradzają odpowiednią lokalizację mikroskopu.
Praca mikroskopu jest słyszalna w znikomym stopniu. Urządzenie nie jest uciążliwe ani szkodliwe dla otoczenia.
Materiałem eksploatacyjnym w mikroskopie sił atomowych są przede wszystkim sondy. Zużycie sond zależy od sposobu użytkowania i typu badanej próbki. W mikroskopie Dimension FastScan ze względu na dostępność trybu PeakForce Tapping, zużycie sond jest zdecydowanie mniejsze niż w konwencjonalnych mikroskopach AFM. Ceny sond są zróżnicowane i zależą między innymi od zastosowania. Zachęcamy do zapoznania się z cenami sond na stronie producenta: http://www.brukerafmprobes.com/