Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Dimension Icon

Bruker

Dimension Icon to wszechstronny mikroskop SPM firmy Bruker, który pracuje w układzie skanowania sondą. Umożliwia on badanie dużych próbek o średnicy do 210 mm i grubości do 15 mm, dzięki czemu jest dedykowany zarówno do laboratoriów naukowych, jak i przemysłowych. Ponadto, opcjonalnie możliwe jest prowadzenie pomiarów w zakresie temperatur od -35 do 250 °C oraz lokalne podgrzewanie próbki do temperatury 400 °C. Ten prosty w obsłudze mikroskop charakteryzuje się wysoką rozdzielczością, dużą szybkością skanowania oraz wyjątkowo niskim dryfem i poziomem szumu. Wysokiej jakości układ optyczny ułatwia precyzyjny wybór pola skanowania. Zaawansowany kontroler Nanoscope V umożliwia jednoczesną akwizycję do ośmiu sygnałów. Oprócz podstawowych trybów obrazowania, w mikroskopie wprowadzono nowe rozwiązania m. in.: tryb PeakForce QNM do obrazowania właściwości mechanicznych, tryb PeakForce Tuna do mapowania przewodności elektrycznej próbek delikatnych. Oryginalny algorytm ScanAsyst, dobierający automatycznie parametry skanowania, oprogramowanie Nanoscope z gotowymi procedurami badawczymi, możliwość tworzenia własnych skryptów oraz zmotoryzowany stolik wyraźnie zmniejszają czas do uzyskania wyników.

formularz kontaktowy

Inne mikroskopy AFM/SPM: BioScope Catalyst, Bioscope ResolveDimension FastScanMultiMode 8

Produkty powiązane: sondy i akcesoria AFMplatformy antywibracyjne

FAQ

  • Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć urządzeniem?

    Mikroskopy sił atomowych są potężnym narzędziem badawczym stworzonym do badania topografii, a także innych właściwości powierzchni – elektrycznych, elektrochemicznych, magnetycznych, nanomiechanicznych czy też cieplnych. Mapowanie topografii i innych właściwości odbywa się z rozdzielczością od kilkunastu nanometrów do ok. 1 nm. Pomiary można prowadzić zarówno w warunkach pokojowych, jak i w kontrolowanej atmosferze. Mikroskop Dimension ICON może zostać zsynchronizowany ze spekrometrem ramanowskim, co pozwala na rejestrację widm z rozdzielczością znacznie większą niż w przypadku klasycznego rozwiązania opartego o mikroskopię świetlną.

  • Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    Dimension ICON jest mikroskopem umożliwiającym pomiary dużych próbek, tj. o średnicy do 210 mm. Wysokość próbki nie powinna przekraczać 15 mm.

  • Jak należy przygotować próbkę?

    Mikroskopy sił atomowych dedykowane są do próbek stosunkowo płaskich. Przygotowując próbkę należy mieć na uwadze zakres pomiarowy skanera w osi Z, który w przypadku mikroskopu Dimension ICON wynosi 10 µm. Bardziej wymagające pomiary, np. elektryczne mogą wymagać dodatkowych zabiegów. W przypadku takich zaawansowanych zastosowań  sugerujemy kontakt z naszymi specjalistami aplikacyjnymi.

  • Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może zostać zautomatyzowany?

    Przeciętny pomiar trwa około kilku minut. Mikroskop Dimension Icon umożliwia automatyzację procesu pomiarowego poprzez: zaprogramowanie stolika, tworzenie skryptów pomiarowych lub zastosowanie opcjonalnego pakietu AutoMET z funkcją lokalizacji miejsca na próbce.

  • W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    Wyniki topografii otrzymuje się w postaci trójwymiarowej mapy powierzchni. Interpretacja wyników zależy od doświadczenia użytkownika, jednakże są one przedstawione w czytelnej i przejrzystej formie. Należy pamiętać, że mikroskop AFM umożliwia także pomiary innych właściwości (np. nanomechanicznych). W takim wypadku poza topografią powierzchni otrzymuje się przykładowo mapę rozkładu modułu Younga czy rozkładu adhezji pomiędzy ostrzem a próbką. Co ważne, mapy topografii i innych właściwości mogą być ze sobą ściśle skorelowane.

  • Jakie są gabaryty urządzenia wraz z niezbędnymi elementami pomocniczymi?

    Dimension ICON wraz z komorą akustyczną zajmuje powierzchnię ok. 1,5 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane jest za pośrednictwem kontrolerów przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego. Należy także zwrócić uwagę, aby zapewnić swobodny dostęp do elementów mikroskopu.

  • Czy pomieszczenie, w którym będzie zainstalowane urządzenie musi spełniać szczególne wymagania?

    Dimension ICON jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała odpowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz nie było zapylenia. Muszą być również spełnione odpowiednie wymogi odnośnie drgań mechanicznych i akustycznych. Należy także unikać instalowania mikroskopu tuż pod klimatyzatorami lub wyciągami wentylacyjnymi. Ponadto zaleca się, aby mikroskop był instalowany na najniższych kondygnacjach docelowego budynku (piwnica lub parter). Firma LABSOFT zapewnia pełne wsparcie w przygotowaniu pomieszczeń do instalacji mikroskopu oraz przeprowadza proces samej instalacji. Nasi inżynierowie wykonują stosowne pomiary drgań i doradzają odpowiednią lokalizację mikroskopu.

  • Czy urządzenie jest głośne i generuje inne uciążliwe czynniki?

    Praca mikroskopu jest słyszalna w znikomym stopniu. Urządzenie nie jest uciążliwe ani szkodliwe dla otoczenia.

  • Jakie są koszty części zużywalnych i eksploatacji urządzenia?

    Materiałem eksploatacyjnym w mikroskopie sił atomowych są przede wszystkim sondy. Zużycie sond zależy od sposobu użytkowania i typu badanej próbki. W mikroskopie Dimension ICON ze względu na dostępność trybu PeakForce Tapping, zużycie sond jest zdecydowanie mniejsze niż w konwencjonalnych mikroskopach AFM. Ceny sond są zróżnicowane i zależą między innymi od zastosowania. Zachęcamy do zapoznania się z cenami sond na stronie producenta: http://www.brukerafmprobes.com/

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco