Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

EBSD

Edax

Edax Inc. jest uznanym producentem systemów do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) montowanych w skaningowych mikroskopach elektronowych. W metodzie EBSD, wiązka elektronów pierwotnych pada na próbkę pod małym kątem, a elektrony wstecznie rozproszone ulegają dyfrakcji na sieci krystalicznej próbki, tworząc na ekranie pokrytym luminoforem układ linii Kikuchiego. Unikalny układ tych linii dla danej orientacji krystalograficznej pozwala na akwizycję map orientacji oraz analizę fazową składników próbki. Firma Edax oferuje dwie kamery EBSD, Hikari XP i DigiView, różniące się głównie rozdzielczością i szybkością akwizycji. Obydwa modele zapewniają wysoką czułość, umożliwiającą efektywną pracę nawet przy prądzie 100 pA i energii 5 keV, oraz wysoką rozdzielczość kątową (<0,1°), niezbędną do rozróżniania nieznacznych zmian w orientacji. Proste w użyciu oprogramowanie TEAM™ automatycznie konfiguruje kamerę, dobiera i optymalizuje parametry akwizycji oraz indeksuje linie Kikuchiego. Natomiast oprogramowanie OIM™ przeprowadza analizę mikrostruktury próbki i wizualizuje ją na wiele sposobów. Ponadto, dostępny jest detektor FSD (forward scatter detector), który jest kompatybilny z dużym pochyłem próbki stosowanym w EBSD i pozwala uzyskać m.in. bardzo dobry kontrast orientacji.

Modele: Hikari XP (1000 punktów/s, rozdzielczość 640×480 pikseli), DigiView (200 punktów/s, rozdzielczość 1392×1040 pikseli)

formularz kontaktowy

Produkty powiązane: dyfrakcyjna baza danych – do analizy fazowej, EDS, WDS,  EDS+WDS+EBSDXPSAESToF-SIMS

TEAM Analysis Systems – prezentacja online

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco