Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

EDS

Edax

Edax Inc. jest znanym i doświadczonym producentem detektorów EDS do skaningowych i transmisyjnych mikroskopów elektronowych. Rentgenowska spektroskopia energodyspersyjna (EDS) jest rodzajem mikroanalizy rentgenowskiej i umożliwia analizę składu chemicznego powierzchni próbki. Promieniowanie rentgenowskie wzbudzane w próbce przez wiązkę elektronową pada na detektor krzemowy, generując w nim pary elektron-dziura. Ich liczba zależy od energii fotonu X, co pozwala na akwizycję widma ilości zliczeń w funkcji energii. W chwili obecnej EDAX oferuje zarówno detektory typu SDD (Silicon Drift Detector) ze zintegrowanym przedwzmacniaczem, jak i tradycyjne Si(Li), chłodzone ciekłym azotem. Detektory SDD tej firmy jako jedyne na rynku mają zdolność przetwarzania bardzo dużej liczby zliczeń przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości energetycznej. Wraz z detektorami dostępne jest przyjazne oprogramowanie TEAM™ do rejestracji widm, optymalizacji parametrów akwizycji, analizy jakościowej i ilościowej, tworzenia profili i map rozkładu pierwiastków oraz identyfikacji faz próbki. Oprogramowanie automatycznie ogranicza i koryguje artefakty typowe dla pracy przy wysokiej liczbie zliczeń.

formularz kontaktowy

Produkty powiązane: WDS, EBSD, EDS+WDS+EBSD, μXRF, XPS, AES, ToF-SIMS

Detektory EDS do SEM:

  • seria Octane SDD: powierzchnia aktywna do 100 mm2, maksymalna liczba zliczeń na wejściu/wyjściu 1,6 Mcps/800 kcps, najlepsza rozdzielczość 121 eV z 90% stabilnością do 200 kcps. Dostępne są cztery modele zoptymalizowane do wysokiej wydajności i/lub rozdzielczości energetycznej: Pro (wysoka rozdzielczość energetyczna), Plus (rozdzielczość energetyczna i wydajność), Super (rozdzielczość przestrzenna i wydajność) oraz Ultra (wydajność).
  • Sapphire Si(Li): z cienkim okienkiem (SUT), o powierzchni aktywnej 10 lub 30 mm2, rozdzielczości 132 eV oraz podwyższonej  czułości i rozdzielczości w zakresie lekkich pierwiastków. Chłodzony ciekłym azotem z dewara o pojemności 10 litrów.

Detektory EDS do TEM i STEM:

  • seria Apollo XLT SDD: powierzchnia aktywna 30 mm2, maksymalna liczba zliczeń na wejściu/wyjściu 3 Mcps/950 kcps, rozdzielczość 129 eV. Dostępne są dwie wersje: z cienkim okienkiem (SUTW) i jedyny na rynku bezokienkowy SDD (XLTW). Wersja bezokienkowa ma 5x podwyższoną czułość w zakresie lekkich pierwiastków.
  • Sapphire Si(Li): automatycznie wsuwany i wysuwany detektor z cienkim okienkiem (SUT) o powierzchni aktywnej 30 mm2, wysokiej czułości i rozdzielczości w zakresie lekkich pierwiastków. Chłodzony ciekłym azotem z dewara o pojemności 5 litrów.

Synergistic Operation of WDS and EDS – prezentacja online

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco