Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Hysitron TS 77

Bruker

TS-77 to urządzenie do badań nanoindentacyjnych wprowadzone przez Brukera, jako alternatywa dla dużych platform TI Premier oraz TI 980. Ten nieco mniejszy model sprawdzi się wszędzie tam, gdzie pomiary odbywają się na próbkach nie wymagających szczególnych warunków, np. grzanie, chłodzenie czy kontrola wilgotności powietrza. Ze względu na swoje kompaktowe wymiary stolika automatyzacja badań również jest niższa niż w pozostałych modelach Hysitrona.

Niezmienne pozostają natomiast możliwości platformy w zakresie uzyskiwanych rozdzielczości pomiarowych, a także możliwość przeprowadzania standardowych typów badań. Możemy zatem wykonywać statyczną nanoindentację w celu wyznaczenia twardości instrumentalnej czy modułu Younga, ale także badania odporności na zarysowania, czy badania zużycia materiału. Dzięki szybkiemu kontrolerowi możliwe jest mapowanie właściwości mechanicznych z prędkością 2 indentów na sekundę. Pełna kontrola nad zadawanym obciążeniem oraz przemieszczeniem wgłębnika podczas badań, daje też możliwość zbadania pełzania materiału oraz relaksacji naprężeń. Dodatkowo dostępny jest tryb badań dynamicznych nanoDMA. Co istotne urządzenie pozwala na skanowanie powierzchni metodą SPM, co umożliwia bardzo precyzyjne pozycjonowanie oraz obrazowanie topografii powierzchni. Jednocześnie TS-77 to nanoindeneter oferujący znakomity stosunek możliwości do ceny.

Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.