DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

TS-77 to urządzenie do badań nanoindentacyjnych wprowadzone przez Brukera, jako alternatywa dla dużych platform TI Premier oraz TI 980. Ten nieco mniejszy model sprawdzi się wszędzie tam, gdzie pomiary odbywają się na próbkach nie wymagających szczególnych warunków, np. grzanie, chłodzenie czy kontrola wilgotności powietrza. Ze względu na swoje kompaktowe wymiary stolika automatyzacja badań również jest niższa niż w pozostałych modelach Hysitrona.
Niezmienne pozostają natomiast możliwości platformy w zakresie uzyskiwanych rozdzielczości pomiarowych, a także możliwość przeprowadzania standardowych typów badań. Możemy zatem wykonywać statyczną nanoindentację w celu wyznaczenia twardości instrumentalnej czy modułu Younga, ale także badania odporności na zarysowania, czy badania zużycia materiału. Dzięki szybkiemu kontrolerowi możliwe jest mapowanie właściwości mechanicznych z prędkością 2 indentów na sekundę. Pełna kontrola nad zadawanym obciążeniem oraz przemieszczeniem wgłębnika podczas badań, daje też możliwość zbadania pełzania materiału oraz relaksacji naprężeń. Dodatkowo dostępny jest tryb badań dynamicznych nanoDMA. Co istotne urządzenie pozwala na skanowanie powierzchni metodą SPM, co umożliwia bardzo precyzyjne pozycjonowanie oraz obrazowanie topografii powierzchni. Jednocześnie TS-77 to nanoindeneter oferujący znakomity stosunek możliwości do ceny.
Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.