Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Interferometry laserowe

Sios

Miniaturowe interferometry firmy SIOS GmbH są przeznaczone do systemów metrologicznych, urządzeń i instrumentów użytkownika. Służą one do bezkontaktowych i precyzyjnych pomiarów odległości wzdłuż jednej lub wielu osi z rozdzielczością do 0,005 nm oraz kątów z rozdzielczością do 0,001 arcsec. Zasada pomiaru wykorzystuje zjawisko interferencji – wiązka laserowa odbita od poruszającego się obiektu interferuje z wiązką referencyjną, a powstały obraz interferencyjny jest przeliczany w optoelektronicznym układzie przetwarzania na odległość. Pomiar kątów wymaga zastosowania co najmniej dwóch wiązek pomiarowych i polega na porównaniu różnicy zmierzonej odległości między nimi. Głowica pomiarowa interferometrów firmy SIOS jest sprzęgnięta światłowodowo z laserami He-Ne o stabilizowanej częstotliwości. Wpływy środowiska na pomiar są kompensowane poprzez korekcję długości fali. Urządzenia są obsługiwane z poziomu niezależnej klawiatury lub oprogramowania PC. Główne zastosowania to układy pomiarowe do stolików przesuwnych, mikroskopowych, pozycjonujących, obrabiarek, urządzeń do prób materiałowych oraz kalibracja instrumentów metrologicznych i bezkontaktowa profilometria powierzchni. Dostępnych jest wiele następujących typów, które różnią się głównie geometrią, liczbą wiązek pomiarowych oraz zakresem pomiarowym i zastosowaniem:

  • SP5000NG – jednowiązkowe interferometry do pomiaru przemieszczenia, kalibracja przemieszczenia lub kontrola jednej osi w zamkniętej pętli,
  • SP5000TR – wielowiązkowe interferometry do pomiaru przemieszczenia i kąta pochylenia, jednoczesny pomiar przemieszczenia i pochylenia w jednym kroku pomiarowym,
  • SP15000 C3 i C5 – wielowiązkowe interferometry do pomiarów wieloosiowych, kalibracja wieloosiowych systemów pozycjonujących, maszyn współrzędnościowych i obrabiarek,
  • SP5000DI – interferometry z różnicowym pomiarem przemieszczenia, wysokostabilne pomiary w długim czasie i pozycjonowanie na długim dystansie,
  • LM20 i LM50 – sondy interferometryczne dotykowe z pomiarem różnicowym, precyzyjne pomiary grubości i kalibracja wzorców

Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.