Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Interferometry laserowe

Sios

Miniaturowe interferometry firmy SIOS GmbH są przeznaczone do zastosowania w systemach metrologicznych, urządzeniach i instrumentach użytkownika. Służą one do bezkontaktowych i precyzyjnych pomiarów odległości wzdłuż jednej lub wielu osi z rozdzielczością do 0,1 nm oraz kątów z rozdzielczością do 0,01 arcsec. Zasada pomiaru wykorzystuje zjawisko interferencji – wiązka laserowa odbita od poruszającego się obiektu interferuje z wiązką referencyjną, a powstały obraz interferencyjny jest przeliczany w optoelektronicznym układzie przetwarzania na odległość. Pomiar kątów wymaga zastosowania co najmniej dwóch wiązek pomiarowych i polega na porównaniu różnicy dróg optycznych między nimi. Głowica pomiarowa interferometrów firmy SIOS jest sprzęgnięta światłowodowo z laserami He-Ne o stabilizowanej częstotliwości. Wpływy środowiska na pomiar są kompensowane poprzez korekcję długości fali. Urządzenia są obsługiwane z poziomu niezależnej klawiatury lub oprogramowania PC. Główne zastosowania to jako układy pomiarowe do stolików przesuwnych, mikroskopowych, pozycjonujących, obrabiarek, urządzeń do prób materiałowych oraz kalibracja instrumentów metrologicznych i bezkontaktowa profilometria powierzchni. Dostępnych jest wiele typów, które różnią się głównie geometrią, liczbą wiązek pomiarowych oraz zakresem pomiarowym, w tym sonda LM do pomiarów kontaktowych.

Serie: SP (1-wiązkowy, płaskie zwierciadło, zakres 100 lub 2000 mm), SP-D (2-wiązkowy, płaskie zwierciadło, 100 lub 2000 mm, ±2 arcmin), SP-TR (3-wiązkowy, płaskie zwierciadło, 100 lub 2000 mm, ±2 arcmin), SP-LR (1-wiązkowy, hollow reflector, 80 m), MI (1-wiązkowy, retroreflektor, 60, 150 lub 5000 mm), LM (20-50 mm)

formularz kontaktowy

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco