Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

(μXRF) M1 MISTRAL

Bruker

M1 MISTRAL to szybki i kompaktowy nastołowy spektrometr mikrofluorescencji rentgenowskiej (μXRF) firmy Bruker do nieniszczącej analizy pierwiastkowej próbek objętościowych i warstwowych, bez konieczności ich preparatyki. W urządzeniu tym mirowiązka (≥100 µm) pochodząca z lampy rentgenowskiej generuje w próbce charakterystyczne promieniowanie X, które jest rejestrowane i analizowane przez detektor. W zależności od modelu dostępny jest licznik proporcjonalny lub szybki, wysokorozdzielczy i bezazotowy detektor SDD XFlash do zastosowań wymagających większej szybkości i czułości. M1 Mistral posiada automatyczny stolik XYZ z funkcją automatycznego ogniskowania i przesuwania oraz mikroskop z kamerą do precyzyjnego pozycjonowania punktów pomiarowych. Istnieje możliwość pomiarów wielopunktowych, w tym mapowania. Oprogramowanie XSpect Pro zapewnia intuicyjną obsługę spektrometru oraz analizuje wyniki jakościowo i ilościowo, w tym z wykorzystaniem wzorców. Ponadto, pakiet XData umożliwia analizę złożonych próbek warstwowych, dając informacje o ich składzie i grubości. Typowe zastosowania to kontrola jakości, analiza powłok ochronnych i dekoracyjnych, próbek jubilerskich oraz badania zawartości zgodnie z dyrektywą ROHS.

Modele: M1 MistralPC (licznik proporcjonalny, stolik Z), M1 MistralSDD (detektor SDD, stolik XYZ)

strona producenta

Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy

webinarium – zastosowanie M1 Mistral do badań ROHS

webinarium – zastosowanie M1 Mistral do analizy powłok

 

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco