Mikroskopy SEM/FIB

Firma Thermo Fisher Scientific (dawniej FEI Company) oferuje mikroskopy SEM/FIB (SDB, DualBeam) dopasowane do potrzeb badawczych. Aktualna oferta znajduje się poniżej. Celem doboru mikroskopu i uzyskania dodatkowych informacji prosimy o kontakt przez formularz kontaktowy.

»Scios 2 »Helios 5 (Ga) »Helios PFIB (Xe) »Helios Hydra (Xe, Ar, O, N)

Scios

Scios 2 to zaawansowany system typu DualBeam™ firmy Thermo Fisher Scientific, w którym zastosowano wiele rozwiązań poprawiających wydajność, ergonomię, ułatwiających obsługę oraz rozszerzających możliwości badawcze. Kolumna elektronowa NiCol™ z działem SFEG umożliwia pracę systemu jako wysokopróżniowy, wysokorozdzielczy mikroskop SEM. Układ opóźniania wiązki zapewnia dobre parametry w zakresie niskich energii, już od 20 eV. Rozbudowany system detekcji elektronów obejmuje trzy detektory wewnątrzkolumnowe (układ Trinity), z których jeden posiada dwa segmenty, detektor ETD, pierścieniowo-segmentowy detektor CBS/ABS oraz prześwietleniowy detektor STEM3+. Możliwość niezależnego odczytu jednocześnie czterech sygnałów z aktywnych pól detektorów pozwala na szybką charakterystykę próbki oraz na dostrajanie kontrastu. System jest w pełni kompatybilny z detektorami EDS, WDS i EBSD. Kolumna jonowa Sidewinder™ emituje wiązkę jonów galu (FIB), która może być wykorzystana do modyfikacji powierzchni w skali nanometrycznej, kontrolowanej preparatyki próbek TEM i przekrojów poprzecznych oraz nanoszenia warstw. Wiązka jest stabilna i ma pożądany kształt w szerokim zakresie prądów jonowych i energii, co umożliwia szybkie, wysokoprądowe rozpylanie wstępne materiału oraz delikatne, niskoenergetyczne pocienianie i oczyszczanie końcowe. Zintegrowany manipulator EasyLift™ o wyjątkowo wysokiej odtwarzalności ruchu umożliwia precyzyjne pobieranie i przenoszenie lamelek na siatki. Mikroskop SCIOS sterowany jest przyjaznym interfejsem użytkownika, który dodatkowo sugeruje użytkownikowi dobór optymalnych parametrów wiązki i elementów elektrooptycznych.

Helios 5 (Ga)

Helios 5 to zaawansowany system typu DualBeam™ firmy FEI, zoptymalizowany do obserwacji ultrawysokorozdzielczych, badań 3D, patterningu oraz precyzyjnej obróbki jonowej. Kolumna elektronowa z działem Elstar™ FEG, monochromatorem, układem opóźniania wiązki oraz soczewkami o stałej mocy umożliwia stabilną pracę systemu jako wysokopróżniowy mikroskop SEM o rozdzielczości poniżej 1 nm w zakresie energii od 1 do 30 keV. Kolumna jonowa Tomahawk™ emituje stabilną wiązkę jonów galu (FIB) o szerokim zakresie dostępnych energii i prądów, która może być wykorzystana do modyfikacji powierzchni w skali nanometrycznej, kontrolowanej preparatyki próbek TEM oraz obrazowania i mikroanalizy 3D. Nowe detektory (TLD, STEM, ICE) znacznie rozszerzają możliwości obrazowania systemu w trybie SEM i FIB.

Modele: CX (Tomahawk, XY: 110 mm, Z: 65mm), UC (Tomahawk, mono UC+, piezo, XY: 150 mm, Z: 10 mm), UX (Phoenix, mono UC+, piezo, XY: 150 mm, Z: 10 mm)

Helios PFIB (Xe)

Helios G4 PFIB to mikroskop z kolumną elektronową i kolumną jonową generującą wiązkę jonów ksenonu.

Modele: CXe (XY: 110 mm, Z: 65mm), UXe (piezo, XY: 150 mm, Z: 10 mm)

Helios Hydra

Helios Hydra to mikroskop z kolumną elektronową i kolumną jonową pozwalającą na użycie czterech gazów: ksenonu, argonu, tlenu i azotu bez konieczności zmiany konfiguracji sprzętowej. Czas przełączania między gazami jest szybki i wynosi poniżej 10 minut.

Modele: CX (XY: 110 mm, Z: 65mm), UX (piezo, XY: 150 mm, Z: 10 mm)