DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

Celem doboru mikroskopu i uzyskania dodatkowych informacji prosimy o kontakt przez formularz kontaktowy.
Talos to rodzina wysokorozdzielczych mikroskopów skaningowo-transmisyjnych S(TEM) firmy Thermo Fisher Scientific o maksymalnym napięciu 200 kV. Należą tu modele analityczne do badań z zakresu inżynierii materiałowej oraz modele przystosowane do zastosowań biologiczno – medycznych, w tym technik krio-mikroskopowych. W mikroskopach Talos zastosowano wiele rozwiązań znanych z platformy Titan, między innymi soczewkę obiektywową o stałej mocy, działo polowe XFEG o podwyższonej jasności oraz piezostolik. Duża przestrzeń między nabiegunnikami obiektywu pozwala na akwizycję tomograficznej serii pochyłów w szerokim zakresie kątów oraz prowadzenie eksperymentów dynamicznych in-situ. Szybkie układy detekcji TEM, STEM i EDS pozwalają na rejestrację dynamicznych zmian struktury i składu chemicznego próbek. Kamera CETA w technologii CMOS do rejestracji obrazów TEM zapewnia szerokie pole widzenia oraz bardzo dużą szybkość odczytu. Cztery detektory STEM są odczytywane w sposób równoległy. Ponadto, podział jednego z nich na sektory umożliwia uzyskiwanie obrazów z kontrastem topograficznym i DPC. Modele analityczne posiadają detektor Super-X do dokładnej i szybkiej analizy EDS oraz do tomografii EDS 3D. Mikroskopy Talos są w pełni zautomatyzowane oraz posiadają szybką kamerę cyfrową do przeszukiwania próbki, która funkcjonalnie zastępuje ekran fluorescencyjny i umożliwia pracę zdalną. Intuicyjne oprogramowanie Velox ułatwia obsługę mikoskopu i analizę danych.
Modele: F200X (X-FEG, 4xSDD), F200S (S-FEG, 2xSDD), F200i (S-FEG, EDS wsuwany), F200C (S-FEG, C-TWIN, EDS wsuwany), L120C (LaB6, C-TWIN, EDS wsuwany)
Themis firmy Themo Fisher Scientific to najbardziej zaawansowana rodzina elektronowych mikroskopów transmisyjnych, zoptymalizowana poprzez zastosowanie najnowszych rozwiązań elektrooptycznych i analitycznych do badań materiałów w skali atomowej. Działo polowe X-FEG o wysokiej jasności, korektory aberracji sferycznej (CS) kondensora i obiektywu oraz detektor Super-X umożliwiają obrazowanie ultrawysokorozdzielcze w trybach STEM i TEM w szerokim zakresie energii oraz analizę EDS z rozdzielczością i czułością atomową (ChemiSTEM). Soczewki o stałej mocy, szeroka kolumna oraz specjalna obudowa (w modelu Z), zapewniają wysoką stabilność termiczną i mechaniczną. Soczewka obiektywowa jest kompatybilna z techniką tomografii. Konfiguracja z monochromatorem wiązki i filtrem energii umożliwia otrzymywanie z wysokorozdzielczych widm EELS informacji o przesunięciach chemicznych i przerwie energetycznej. Opcjonalnie dostępny jest również detektor EDS Dual-X o bardzo dużym kącie bryłowym. W mikroskopie zastosowano wiele funkcji automatyzujących codzienną pacę, m.in. pakiet OptiSTEM+ do redukcji aberracji pierwszego i drugiego rzędu oraz OptiMONO do wzbudzania monochromatora. Ponadto, zastosowano nowe tryby obrazowania, m.in DPC oraz iDPC. Obrazowanie w trybie TEM jest realizowane przez szybką kamerę CMOS CETA o szerokim polu widzenia. Natomiast w trybie STEM, oprócz standardowego zestawu detektorów HAADF, DF2, DF4, BF, dostępny jest również detektor EMPAD stanowiący macierz 128×128 pikseli o bardzo wysokim zakresie czułości i ogromnej szybkości odczytu.