Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

MultiMode 8

Bruker

MultiMode 8 to uniwersalny mikroskop SPM firmy Bruker, pracujący w układzie skanowania próbki i bazujący na rozwijanej od wielu lat platformie MultiMode. Przeznaczony jest on do badania próbek biologicznych i materiałowych o średnicy do 15 mm i grubości do 5 mm w powietrzu oraz w cieczach. Ponadto, opcjonalnie możliwe jest prowadzenie pomiarów w podwyższonych (do 250 °C) i obniżonych (do -35 °C) temperaturach oraz w komorze rękawicowej. Ten prosty w obsłudze mikroskop, dzięki zwartej i sztywnej konstrukcji oraz zaawansowanemu kontrolerowi Nanoscope V, osiąga najwyższą na rynku rozdzielczość przy najniższym poziomie szumów. Oprócz podstawowych trybów obrazowania AFM, zastosowano w nim nowe rozwiązania m. in.: ulepszony tryb z przerywanym kontaktem PeakForce Tapping, tryb PF-QNM do obrazowania właściwości mechanicznych i tryb PF-Tuna do mapowania przewodności elektrycznej próbek delikatnych. Ponadto, zastosowano oryginalny i wygodny algorytm ScanAsyst automatycznie dobierający optymalne parametry skanowania oraz algorytm ScanAsyst-HR znacznie przyspieszający uzyskiwanie danych.

Wszystkich zainteresowanych zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy

Inne mikroskopy AFM/SPM: BioScope Catalyst, Bioscope ResolveDimension FastScanDimension Icon

Produkty powiązane: sondy i akcesoria AFMplatformy antywibracyjne

FAQ

  • Jakie cechy i parametry można zbadać/zmierzyć urządzeniem?

    Mikroskopy sił atomowych są potężnym narzędziem badawczym stworzonym do badania topografii, a także innych właściwości powierzchni – elektrycznych, elektrochemicznych, magnetycznych, nanomiechanicznych czy też cieplnych. Mapowanie topografii i innych właściwości odbywa się z rozdzielczością od kilkunastu nanometrów do ok. 1 nm. Tryb PeakForce HR dostępny w mikroskopie MultiMode 8 pozwala na znaczne przyspieszenie procesu skanowania. Dzięki temu można uzyskać informacje o dynamice procesów, np. zmianach fazowych pod wpływem różnych temperatur.

  • Jakie rozmiary i kształt powinna mieć próbka?

    Mikroskop MultiMode 8 umożliwia pomiary próbek o średnicy do 15 mm i grubości 5 mm.

  • Jak należy przygotować próbkę?

    Mikroskopy sił atomowych dedykowane są do próbek stosunkowo płaskich. Przygotowując próbkę należy mieć na uwadze zakres pomiarowy skanera w osi Z, który w przypadku mikroskopu MultiMode 8 wynosi 0,4 µm, 2,5  µm lub 5  µm, zależnie od zamontowanego skanera. Sugerujemy stosowanie dedykowanych krążków magnetycznych. W przypadku bardziej skomplikowanych próbek sugerujemy kontakt z naszymi specjalistami aplikacyjnymi.

  • Jak długo trwa przeciętny pomiar i czy może zostać zautomatyzowany?

    Przeciętny pomiar trwa kilka minut. . Opcjonalny tryb PeakForce HR pozwala na skrócenie czasu pomiaru do kilkudziesięciu sekund. Mikroskop MultiMode 8 jest mikroskopem manualnym. W przypadku potrzeby wykonywania pomiarów automatycznych, zalecamy zakup mikroskopów z serii Dimension.

  • W jakiej postaci otrzymuje się wyniki i czy ich interpretacja jest trudna?

    Wyniki topografii otrzymuje się w postaci trójwymiarowej mapy powierzchni. Interpretacja wyników zależy od doświadczenia użytkownika, jednakże są one przedstawione w czytelnej i przejrzystej formie. Należy pamiętać, że mikroskop AFM umożliwia także pomiary innych właściwości (np. elektrycznych lub nanomechanicznych). W takim przypadku poza topografią powierzchni otrzymuje się przykładowo mapę rozkładu potencjału powierzchniowego lub modułu Younga. Co ważne, mapy topografii i innych właściwości mogą być ze sobą ściśle skorelowane.

  • Jakie są gabaryty urządzenia wraz z niezbędnymi elementami pomocniczymi?

    MultiMode 8 jest urządzeniem kompaktowym i wraz ze stołem antywibracyjnym zajmuje ok. 1 m2. Ponieważ urządzenie jest sterowane przy pomocy komputera, to należy doliczyć jeszcze rozmiary stołu biurowego lub biurka komputerowego. Należy także zwrócić uwagę, aby do elementów mikroskopu był swobodny dostęp.

  • Czy pomieszczenie, w którym będzie zainstalowane urządzenie musi spełniać szczególne wymagania?

    Mikroskop MultiMode 8 jest urządzeniem laboratoryjnym. Wymaga się zatem, aby w pomieszczeniu oprócz dostępu do zasilania, panowała odpowiednia temperatura i wilgotność powietrza oraz nie było zapylenia. Muszą być również spełnione odpowiednie wymogi odnośnie drgań mechanicznych i akustycznych. Należy także unikać instalowania mikroskopu tuż pod klimatyzatorami lub wyciągami wentylacyjnymi. Firma LABSOFT zapewnia pełne wsparcie w przygotowaniu pomieszczeń do instalacji mikroskopu oraz przeprowadza proces samej instalacji. Nasi inżynierowie wykonują stosowne pomiary drgań i doradzają odpowiednią lokalizację mikroskopu.

  • Czy urządzenie jest głośne i generuje inne uciążliwe czynniki?

    Praca mikroskopu jest słyszalna w znikomym stopniu. Urządzenie nie jest uciążliwe ani szkodliwe dla otoczenia.

  • Jakie są koszty części zużywalnych i eksploatacji urządzenia?

    Materiałem eksploatacyjnym w mikroskopie sił atomowych są przede wszystkim sondy. Zużycie sond zależy od sposobu użytkowania i typu badanej próbki. W mikroskopie MultiMode 8 ze względu na dostępność trybu PeakForce Tapping, zużycie sond jest zdecydowanie mniejsze niż w konwencjonalnych mikroskopach AFM. Ceny sond są zróżnicowane i zależą między innymi od zastosowania. Zachęcamy do zapoznania się z cenami sond na stronie producenta: http://www.brukerafmprobes.com/

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • fei
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco