DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

NanoForce firmy Bruker to instrument będący połączeniem nanotwardościomierza z mikroskopem sił atomowych (AFM). Jest on szeroko stosowany w laboratoriach naukowych do rozszerzonej analizy właściwości i topografii materiałów w nanoskali oraz w działach rozwoju firm produkujących przyrządy cienkowarstwowe, nanostruktury oraz układy MEMS. Siła docisku wgłębnika w trakcie pomiaru twardości może być zmieniana w zakresie od nano- do miliniutonów z bardzo wysoką dokładnością. Możliwy jest dobór kilku sposobów kontroli procesu pomiarowego, między innymi ze stałą i zmienną szybkością odkształcenia. Ponadto, postęp procesu wgłębiania może być modyfikowany w czasie rzeczywistym na podstawie danych już zarejestrowanych. Oprócz pomiaru statycznego, dostępny jest tryb dynamiczny pozwalający na badanie materiałów wiskoelastycznych (polimerów, biomateriałów) oraz szybkie wyznaczanie twardości w funkcji głębokości indentacji. NanoForce posiada moduł NanoLens, który jest kompaktowym, w pełni funkcjonalnym mikroskopem AFM o wysokiej rozdzielczości. Oprócz pomiaru topografii powierzchni oraz jej właściwości cieplnych i elektrycznych, pozwala on na precyzyjny dobór miejsca wykonania próby twardości oraz kontrolę stanu powierzchni po próbie. NanoForce charakteryzuje się wysoką izolacją termiczną i akustyczną oraz wysoką stabilnością mechaniczną, co przekłada się na niski poziom szumów pomiarowych. Oprogramowanie NanoScript umożliwia łatwą konfigurację i zaawansowaną kontrolę pojedynczych i złożonych eksperymentów, rejestrację danych pomiarowych z częstotliwością do 100 kHz oraz ich obróbkę.