Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Platforma NMM-1

Sios

NMM-1 to platforma do pozycjonowania i wymiarowania obiektów w trzech osiach w zakresie 25x25x5 mm z dużą dokładnością na poziomie 0,1 nm. Urządzenie wykorzystuje trzy miniaturowe interferometry laserowe z płaskim zwierciadłem służące do pomiaru położenia wzdłuż każdej osi. Interferometry monitorują położenie ruchomego stolika zwierciadlanego, na którym leży pozycjonowany/mierzony obiekt. Dodatkowe dwa czujniki pozwalają na pomiar i korekcję odchyleń kątowych stolika. Światło z trzech stabilizowanych laserów jest prowadzone do interferometrów światłowodami, co zapewnia kompaktową i stabilną termicznie konstrukcję urządzenia. Sercem elektronicznego układu pomiarowego jest cyfrowy procesor sygnałowy (DSP) przetwarzający sygnały wejściowe, sterujący napędami i kontrolujący procedury pomiarowe. Na platformie NMM-1 można dodatkowo zainstalować sondy pomiarowe realizujące różne techniki, m.in. LFS (Laser Focus Sensor), AFM (Atomic Force Microscope), WLI (White Light Interferometry), 3D Micro Probe. Dzięki temu zakres zastosowań urządzenia jest bardzo duży i obejmuje precyzyjne pozycjonowanie i wymiarowanie elementów mikromechanicznych, mikroelektronicznych, optycznych oraz obiektów biologicznych, sond pomiarowych, membran i mikrosoczewek oraz kalibrację wzorców wysokości.

Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.