Labsoft

Mikroskopia
Optyczna

Pełna oferta dla laboratoriów przemysłowych i badawczych obejmująca mikroskopy stereoskopowe, cyfrowe, złożone i konfokalne oraz kamery i oprogramowanie

Mikroskopia Optyczna

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Polerka jonowa TIC3X

Leica

TIC 3X firmy Leica to urządzenie do jonowego wytrawiania wysokiej jakości przekrojów poprzecznych z dowolnych próbek litych – miękkich, twardych, kruchych, porowatych, wrażliwych na ciepło i niejednorodnych. Na próbkę umieszczoną w próżni nacierają jony argonu, które dzięki specjalnej masce trawią ją pod kątem. Odsłonięta powierzchnia poprzeczna zawiera bardzo niską gęstość defektów obcych, a jej mikrostruktura, skład chemiczny i fazowy mogą być z powodzeniem analizowane technikami SEM (obrazowanie, EDS, WDS, EBSD). Polerka TIC 3X posiada trzy niezależne działa jonowe, co pozwala na bardzo szybkie rozpylanie materiału (150 µm/godz dla Si) oraz uzyskiwanie przekrojów o rozmiarach nawet powyżej 4 x 1 mm. Ponadto, duży sektor rozpylania o rozciągłości 100° zapewnia czystość i jednorodność przekrojów bez konieczności implementacji ruchu oscylacyjnego próbki w trakcie obróbki. Dodatkowo, próbka może być rozpylana pod kątem 90° przy niskich napięciach przyspieszających, co znacznie poprawia kontrast na obrazach jej mikrostruktury. Dostępny jest również stolik na trzy próbki, znacznie zwiększający przepustowość urządzenia, oraz stolik chłodzony ciekłym azotem do obróbki próbek wrażliwych na wzrost temperatury. Mechanizm montażu i centrowania próbki oraz maski jest wygodny, a mikroskop stereoskopowy (lub kamera) wraz z oświetlaczem LED pozwala na kontrolowanie procesu i położenia próbki. Prostotę obsługi zapewnia intuicyjny ekran dotykowy, a parametry procesu można importować i eksportować z wykorzystaniem interfejsu USB. Do wstępnego wycinania i obróbki mechanicznej próbek zaleca się trymer TXP.

formularz kontaktowy

polerka jonowa EM TIC 3X – prezentacja video

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • leica
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco