DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

W naszej ofercie znajdują się profilometry optyczne firmy Bruker.
Profilometria optyczna (interferometria światła widzialnego) to szybka i bezkontaktowa metoda pomiaru geometrii i cech topograficznych powierzchni. W profilometrze wiązka światła jest dzielona na dwie ścieżki – pomiarową i referencyjną. Wiązka referencyjna przebywa określoną i znaną drogę optyczną. Natomiast wiązka pomiarowa pada na próbkę, odbija się od niej i interferuje z wiązką referencyjną. W prążkach interferencyjnych, rejestrowanych przez detektor, zakodowana jest informacja o wysokości powierzchni próbki w danym punkcie. Pomiar w kolejnych punktach, daje informacje o zmianach tej wysokości, a tym samym o geometrii powierzchni. Rozdzielczość pionowa sięga kilku angstremów, a poprzeczna (lateralna) zależy od obiektywu i zwykle jest w zakresie od poniżej pół do kilku mikrometrów. Oprócz wysokiej rozdzielczości, do zalet należą duża szybkość, nieniszczący charakter oraz szeroki zakres pomiarowy w osi pionowej. Główne zastosowania to metrologia powierzchni, grubość warstw i wysokość skoków oraz obrazowanie trójwymiarowe.
Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.
Contour to rodzina profilometrów optycznych firmy Bruker wprowadzona na rynek ponad 30 lat temu. W chwili obecnej oferowana jest zaawansowana, dziesiąta generacja tych urządzeń. Profilometry te zapewniają dużą szybkość pomiarową, wysoką rozdzielczość (0,01 nm) i powtarzalność (0,01 nm). Pomiar odbywa się w oparciu o interferometrię światła białego. Bardzo wysoka jasność diody LED pozwala na analizę również powierzchni o niskim współczynniku odbicia i dużej chropowatości. Duży zakres pomiaru wysokości (do 10 mm) oraz dostępnych powiększeń sprawiają, że urządzenia te mogą być wykorzystywane w laboratoriach naukowych i przemysłowych. Algorytm skanowania AcquityXR umożliwia uzyskiwanie map 3D z rozdzielczością poprzeczną na poziomie 0.18 µm. Wielordzeniowy 64-bitowy procesor oraz przyjazne oprogramowanie Vision64 zapewniają szybką akwizycję oraz wydajne przetwarzanie danych pomiarowych. Rodzina Contour zawiera kilka modeli stołowych i ze zintegrowaną platformą antywibracyjną, które różnią się m.in. szybkością skanowania, wielkością i typem stolika próbki oraz rodzajem karuzeli okularowej.
Modele: nastołowe – GT-K, Elite K (high fidelity), GT-I (z ruchomą głowicą), Elite I (z ruchomą głowicą, high fidelity); ze zintegrowaną platformą – GT-X, Elite X (high fidelity)
Contour GT – prezentacja video:
NPFLEX to kompletna platforma metrologiczna firmy Bruker, działająca w oparciu o profilometrię optyczną. To najbardziej uniwersalny pod względem zastosowań profilometr, który pozwala na wykonywanie pomiarów na elementach i produktach o dużych wymiarach i zróżnicowanych kształtach. Udało się to uzyskać dzięki montażowi głowicy profilometru na specjalnym statywie, pozwalającym na jej obrót. Ponadto NPFLEX można konfigurować w bardzo szerokim zakresie, dostępny jest duży wybór obiektywów, stolików oraz uchwytów obrotowych i przesuwnych. Urządzenie jest wykorzystywane w przemyśle motoryzacyjnym, biomedycznym (implanty ortopedyczne) i lotniczym oraz wszędzie tam, gdzie zachodzi potrzeba nieniszczących badań topografii powierzchni na dużych elementach z zachowaniem wysokiej dokładności.