Labsoft

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF

Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD

MIKROSKOPIA
SIŁ ATOMOWYCH
I PROFILOMETRIA

Mikroskopy AFM i SPM, szeroki wybór trybów pracy i sond AFM, profilometry optyczne i stykowe

Mikroskopia AFM

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA
TEM, STEM, SEM, DB

Kompletna oferta mikroskopów EM i wyposażenia analitycznego EDS, WDS, EBSP, oraz techniki kriogeniczne, litografia, mikromanipulatory, instrumenty i materiały do preparatyki próbek

Mikroskopia Elektronowa

SERWIS
I WSPARCIE

Specjalistyczny serwis techniczny i obsługa oferowanego sprzętu, szkolenia użytkowników i wsparcie aplikacyjne

Serwis techniczny

WYTWARZANIE
WARSTW, BADANIE POWIERZCHNI

Reaktory RIE, CVD, ALD i MBE do modyfikowania powierzchni i nakładania warstw oraz tribometry, scratch testery, elipsometry i twardościomierze do badania ich właściwości

Badanie warstw

Profilometry optyczne

Bruker

W naszej ofercie znajdują się profilometry optyczne firmy Bruker.

Profilometria optyczna (interferometria światła widzialnego) to szybka i bezkontaktowa metoda pomiaru geometrii i cech topograficznych powierzchni. W profilometrze wiązka światła jest dzielona na dwie ścieżki – pomiarową i referencyjną. Wiązka referencyjna przebywa określoną i znaną drogę optyczną. Natomiast wiązka pomiarowa pada na próbkę, odbija się od niej i interferuje z wiązką referencyjną. W prążkach interferencyjnych, rejestrowanych przez detektor, zakodowana jest informacja o wysokości powierzchni próbki w danym punkcie. Pomiar w kolejnych punktach, daje informacje o zmianach tej wysokości, a tym samym o geometrii powierzchni. Rozdzielczość pionowa sięga kilku angstremów, a poprzeczna (lateralna) zależy od obiektywu i zwykle jest w zakresie od poniżej pół do kilku mikrometrów. Oprócz wysokiej rozdzielczości, do zalet należą duża szybkość, nieniszczący charakter oraz szeroki zakres pomiarowy w osi pionowej. Główne zastosowania to metrologia powierzchni, grubość warstw i wysokość skoków oraz obrazowanie trójwymiarowe.

Wszystkich zainteresowanym zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy.

 »Profilometry Contour     »Platforma metrologiczna NPFLEX

Profilometry Contour

Contour to rodzina profilometrów optycznych firmy Bruker wprowadzona na rynek ponad 30 lat temu. W chwili obecnej oferowana jest zaawansowana, dziesiąta generacja tych urządzeń. Profilometry te zapewniają dużą szybkość pomiarową, wysoką rozdzielczość (0,01 nm) i powtarzalność (0,01 nm). Pomiar odbywa się w oparciu o interferometrię światła białego. Bardzo wysoka jasność diody LED pozwala na analizę również powierzchni o niskim współczynniku odbicia i dużej chropowatości. Duży zakres pomiaru wysokości (do 10 mm) oraz dostępnych powiększeń sprawiają, że urządzenia te mogą być wykorzystywane w laboratoriach naukowych i przemysłowych. Algorytm skanowania AcquityXR umożliwia uzyskiwanie map 3D z rozdzielczością poprzeczną na poziomie 0.18 µm. Wielordzeniowy 64-bitowy procesor oraz przyjazne oprogramowanie Vision64 zapewniają szybką akwizycję oraz wydajne przetwarzanie danych pomiarowych. Rodzina Contour zawiera kilka modeli stołowych i ze zintegrowaną platformą antywibracyjną, które różnią się m.in. szybkością skanowania, wielkością i typem stolika próbki oraz rodzajem karuzeli okularowej.

Modele: nastołowe – GT-K, Elite K (high fidelity), GT-I (z ruchomą głowicą), Elite I (z ruchomą głowicą, high fidelity); ze zintegrowaną platformą – GT-X, Elite X (high fidelity)

Contour GT – prezentacja video:


Platforma metrologiczna NPFLEX

NPFLEX to kompletna platforma metrologiczna firmy Bruker, działająca w oparciu o profilometrię optyczną. To najbardziej uniwersalny pod względem zastosowań profilometr, który pozwala na wykonywanie pomiarów na elementach i produktach o dużych wymiarach i zróżnicowanych kształtach. Udało się to uzyskać dzięki montażowi głowicy profilometru na specjalnym statywie, pozwalającym na jej obrót. Ponadto NPFLEX można konfigurować w bardzo szerokim zakresie, dostępny jest duży wybór obiektywów, stolików oraz uchwytów obrotowych i przesuwnych. Urządzenie jest wykorzystywane w przemyśle motoryzacyjnym, biomedycznym (implanty ortopedyczne) i lotniczym oraz wszędzie tam, gdzie zachodzi potrzeba nieniszczących badań topografii powierzchni na dużych elementach z zachowaniem wysokiej dokładności.

Oferta

  • bruker
  • cryometal
  • edax
  • ThermoFisher Scientific
  • hwi
  • icdd
  • kleindiek
  • phi
  • sentech
  • sios
  • spi
  • table
  • veeco

Przypominamy o przetwarzaniu Twoich danych osobowych zgodnych z Rozporządzeniem Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2016/679 z dnia 27 kwietnia 2016 r. oraz o zasadach, na jakich będzie się to odbywało. Zamykając ten komunikat, zgadzasz się w całości z regulaminem strony.
Twoje dane są u nas bezpieczne, a zgodę możesz wycofać w każdej chwili.